[发明专利]检查指示信息产生装置、基板检查系统、检查指示信息产生方法以及检查指示信息产生程序在审
| 申请号： | 201980073163.3 | 申请日： | 2019-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN112969925A | 公开（公告）日： | 2021-06-15 |
| 发明（设计）人： | 椹木雅也 | 申请（专利权）人： | 日本电产理德股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02;G01R31/50;H05K3/00 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨贝贝;臧建明 |
| 地址： | 日本京都府京都*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 检查指示信息产生装置1包括：存储部34，存储导电结构信息D1，所述导电结构信息D1表示具备设有多个导电部P的表背一对基板面F1、F2、层叠在基板面F1、基板面F2之间的层即配线层L、及将配线层L的配线与多个导电部P连接的通孔V的基板B的导电部P、配线W及通孔V如何导通连接；以及检查指示信息产生部33，执行检查指示信息产生处理，所述检查指示信息产生处理基于导电结构信息D1使形成于同一基板面的导通部P彼此成对地将多个导电部P两两组合，并产生表示所述组合后的一对导电部P的信息作为检查指示信息D2。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 指示 信息 产生 装置 系统 方法 以及 程序 | ||
【主权项】：
暂无信息
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