[发明专利]静电电容检测装置有效
申请号: | 201980014432.9 | 申请日: | 2019-01-17 |
公开(公告)号: | CN111771109B | 公开(公告)日: | 2022-03-25 |
发明(设计)人: | 浮津博伸;森浦祐太;古屋博之;松本玄;泽田唯 | 申请(专利权)人: | 松下知识产权经营株式会社 |
主分类号: | G01L1/14 | 分类号: | G01L1/14;G01L5/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 韩丁 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 静电电容检测装置具备:传感器部(C),包含被二维地配置的、静电电容变化的多个传感器元件;行控制线(41~43);列控制线(44~46);控制电路(20),经由行控制线而对测定对象的传感器元件提供充电电压,测定该电压变化,检测该传感器元件的静电电容;和等电位电路(18),输出与测定对象的传感器元件的电位相等的电位的信号。控制电路向与测定对象的传感器元件连接的行控制线施加充电电压,将与该传感器元件连接的列控制线连接于接地电位侧。进一步地,通过等电位电路,将与测定对象的传感器元件连接的行控制线以外的行控制线以及与测定对象的传感器元件连接的列控制线以外的列控制线之中的至少任意控制线设定为与测定对象的传感器元件的电位相等的电位。 | ||
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【主权项】:
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