[发明专利]静电电容检测装置有效
申请号: | 201980014432.9 | 申请日: | 2019-01-17 |
公开(公告)号: | CN111771109B | 公开(公告)日: | 2022-03-25 |
发明(设计)人: | 浮津博伸;森浦祐太;古屋博之;松本玄;泽田唯 | 申请(专利权)人: | 松下知识产权经营株式会社 |
主分类号: | G01L1/14 | 分类号: | G01L1/14;G01L5/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 韩丁 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 静电 电容 检测 装置 | ||
1.一种静电电容检测装置,具备:
传感器部,包含被二维地配置的、静电电容变化的多个传感器元件;
多个行控制线,在行方向将所述传感器元件连接,将用于检测所述传感器元件的静电电容的规定的充电电压施加于所述传感器元件;
多个列控制线,在列方向将所述传感器元件连接,用于将所述传感器元件与接地电位侧连接;
控制电路,经由所述行控制线而对测定对象的传感器元件提供充电电压,测定该传感器元件的电压变化,基于所述电压变化来检测该传感器元件的静电电容;和
等电位电路,输出与所述测定对象的传感器元件的电位相等的电位的信号,
所述控制电路对与所述测定对象的传感器元件连接的行控制线施加充电电压,将与该传感器元件连接的列控制线连接于接地电位侧,
并且所述控制电路通过所述等电位电路,将与所述测定对象的传感器元件连接的行控制线以外的行控制线、以及与所述测定对象的传感器元件连接的列控制线以外的列控制线之中的至少任意一方的电位,设定为与所述测定对象的传感器元件的电位相等的电位,
所述静电电容检测装置还具备:第2等电位电路,包含输入端子和输出端子,不从所述输入端子导入电流,而生成与从所述输入端子输入的信号相同的电位的信号,并从所述输出端子输出,
所述控制电路具备用于输入所述传感器元件的电压的电压输入端子,
所述控制电路经由所述第2等电位电路,将所述测定对象的传感器元件的电压输入到所述电压输入端子。
2.根据权利要求1所述的静电电容检测装置,其中,
所述控制电路测定对所述传感器元件提供规定时间的所述充电电压时的所述传感器元件的电压、以及/或者从所述传感器元件的充电开始到所述传感器元件的电压达到规定电压为止的时间,来作为所述传感器元件的电压变化。
3.根据权利要求1所述的静电电容检测装置,其中,
所述控制电路包含:连接有具备相互不同的电阻值的电阻的多个充电控制端子,所述多个充电控制端子是对所述行控制线提供充电电压的端子。
4.根据权利要求1所述的静电电容检测装置,其中,
所述静电电容检测装置还具备:屏蔽线,与所述等电位电路的输出连接,将所述行控制线以及所述列控制线电屏蔽。
5.根据权利要求1所述的静电电容检测装置,其中,
所述等电位电路与所述列控制线连接,
所述控制电路通过将测定对象的传感器元件的位置在列方向依次切换、在列方向不能切换时在行方向切换从而进行变更。
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