[发明专利]静电电容检测装置

说明书

静电电容检测装置具备：传感器部(C)，包含被二维地配置的、静电电容变化的多个传感器元件；行控制线(41～43)；列控制线(44～46)；控制电路(20)，经由行控制线而对测定对象的传感器元件提供充电电压，测定该电压变化，检测该传感器元件的静电电容；和等电位电路(18)，输出与测定对象的传感器元件的电位相等的电位的信号。控制电路向与测定对象的传感器元件连接的行控制线施加充电电压，将与该传感器元件连接的列控制线连接于接地电位侧。进一步地，通过等电位电路，将与测定对象的传感器元件连接的行控制线以外的行控制线以及与测定对象的传感器元件连接的列控制线以外的列控制线之中的至少任意控制线设定为与测定对象的传感器元件的电位相等的电位。

技术领域

本公开涉及对传感器元件的静电电容进行检测的静电电容检测装置。

背景技术

专利文献1公开了一种能够测量静电电容型传感器的静电电容的静电电容型传感器装置。该静电电容型传感器装置具备隔着距离而对置设置的第一、第二电极；随着外力的赋予或操作者的接近或者接触而第一、第二电极间的静电电容变化的静电电容型传感器；与静电电容型传感器的第一电极串联连接，对静电电容型传感器施加周期性的矩形波电压的电压施加单元；与静电电容型传感器的第二电极连接，在电压施加单元施加周期性的矩形波电压的情况下对静电电容型传感器中充放电的电荷进行整流的整流器；与整流器并联连接的平滑电容器；与平滑电容器并联连接的电流测量用分流电阻；和对电流测量用分流电阻的两端电压进行测量的电压测量单元。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：JP专利5326042号公报

发明内容

-发明要解决的课题-

在上述的静电电容型传感器装置中，静电电容型传感器被二维地配置。在这样的结构的情况下，对测定对象的静电电容型传感器的电压进行测定的情况下，存在如下问题：也测定与测定对象的传感器连接的控制线所连接的其他传感器的静电电容，产生测定误差。

本公开为了解决上述的课题，其目的在于，提供一种能够高精度地测定静电电容的变化的静电电容检测装置。

-解决课题的手段-

本公开的一方式的静电电容检测装置具备：传感器部，包含被二维地配置的、静电电容变化的多个传感器元件；多个行控制线，在行方向将传感器元件连接，将用于检测传感器元件的静电电容的规定的充电电压施加于传感器元件；多个列控制线，在列方向将传感器元件连接，用于将传感器元件与接地电位侧连接；控制电路，经由行控制线而对测定对象的传感器元件提供充电电压，测定该传感器元件的电压变化，基于电压变化来检测该传感器元件的静电电容；和等电位电路，输出与测定对象的传感器元件的电位相等的电位的信号。控制电路对与测定对象的传感器元件连接的行控制线施加充电电压，将与该传感器元件连接的列控制线连接于接地电位侧。进一步地，控制电路通过等电位电路，将与测定对象的传感器元件连接的行控制线以外的行控制线以及与测定对象的传感器元件连接的列控制线以外的列控制线之中的至少任意一方的电位，设定为与测定对象的传感器元件的电位相等的电位。

-发明效果-

通过本公开，能够减少针对并非测定对象的传感器元件的静电电容的影响，因此能够提高静电电容的测定精度。

附图说明

图1是表示本公开的实施方式1的静电电容检测装置的结构的图。

图2是对测定对象的传感器元件以外的传感器元件被充电的样子进行说明的图。

图3是采用了时间测定方式的情况下的静电电容检测装置的时序图。

图4是对传感器元件的测定电压的时间变化进行说明的图。

图5是采用了电压测定方式的情况下的静电电容检测装置的时序图。