[实用新型]一种能够提高机台利用率的透明晶圆有效

专利信息
申请号: 201922153834.7 申请日: 2019-12-04
公开(公告)号: CN210535662U 公开(公告)日: 2020-05-15
发明(设计)人: 周华芳 申请(专利权)人: 成都海威华芯科技有限公司
主分类号: H01L23/544 分类号: H01L23/544;H01L23/29
代理公司: 成都华风专利事务所(普通合伙) 51223 代理人: 张巨箭
地址: 610029 四川省成都市双流区中国(四川)自*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开了一种能够提高机台利用率的透明晶圆,属于半导体加工技术领域,所述透明晶圆(2)背面设有第一金属层(1),所述透明晶圆(2)正面包括mark区域(3)和图形区域(4),所述mark区域(3)设有对准mark图形(31),所述具有对准mark图形的mark区域(3)设有第二金属层(32)。本实用新型中的透明晶圆能够进一步提高机台的利用率,且机台能够对晶圆进行准确对准,保证了半导体加工工艺的精准度。
搜索关键词: 一种 能够 提高 机台 利用率 透明
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都海威华芯科技有限公司,未经成都海威华芯科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201922153834.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top