[实用新型]一种窄尺寸矩阵沟槽栅极结构有效
申请号: | 201921833038.1 | 申请日: | 2019-10-29 |
公开(公告)号: | CN211208451U | 公开(公告)日: | 2020-08-07 |
发明(设计)人: | 王西政 | 申请(专利权)人: | 无锡和达创芯科技有限公司 |
主分类号: | H01L29/423 | 分类号: | H01L29/423;H01L29/06 |
代理公司: | 无锡嘉驰知识产权代理事务所(普通合伙) 32388 | 代理人: | 盛际丰 |
地址: | 214135 江苏省无锡市新*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种窄尺寸矩阵沟槽栅极结构,属于半导体技术领域。栅极接触区有由多个沟槽形成的沟槽矩阵,所述沟槽矩阵包含至少2个沟槽,所述沟槽宽度为0.8‑1.0um,所述沟槽内填充多晶,所述栅极结构还包含栅极接触孔,所述栅极接触孔位于沟槽内的多晶上,所述栅极接触孔组成小孔矩阵,所述栅极接触孔宽度为0.4‑0.6um。本实用新型提供的沟槽栅极结构,可以明显改善栅源之间的漏流高的问题。欧姆接触没有明显的升高,栅源之间的漏流(Iges)失效明显降低。产品良率从平均78%,提升到平均86%,同时良率离散系数从25%降低到3.5%的合理区间。保证了沟槽MOSFET满足大生产要求,产品品质得到明显提升。 | ||
搜索关键词: | 一种 尺寸 矩阵 沟槽 栅极 结构 | ||
【主权项】:
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