[实用新型]一种均匀铺展聚集在表面皿的钢中第二相粒子的制样装置有效

专利信息
申请号: 201921802669.7 申请日: 2019-10-24
公开(公告)号: CN211318264U 公开(公告)日: 2020-08-21
发明(设计)人: 刘洋;李殿中 申请(专利权)人: 中国科学院金属研究所
主分类号: G01N23/2202 分类号: G01N23/2202;G01N23/2251
代理公司: 沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 21234 代理人: 张志伟
地址: 110016 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 实用新型涉及钢中第二相粒子提取制样的技术领域,具体是给出了一种均匀铺展聚集在表面皿的钢中第二相粒子的制样装置。该制样装置包括铜箔、导电胶、T形支撑装置,具体结构如下:导电胶的两端分别安装铜箔,T形支撑装置为竖向部分和横向部分组合的一体结构,竖向部分为柱形,横向部分的上平面并与竖向部分连接,横向部分的下面为向下凸起的弧形面,导电胶贴附于该弧形面,导电胶两端的铜箔翻起至该上平面的两端部。本实用新型结构简单、实用性强,对于实验完成后沉积在表面皿底部的粉末,可以将其快速、均匀、平整地粘贴至导电胶上,有效避免转移粉末过程造成的污染,为第二相粒子的三维形貌研究提供高质量的样品。
搜索关键词: 一种 均匀 铺展 聚集 表面 第二 粒子 装置
【主权项】:
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