[实用新型]一种均匀铺展聚集在表面皿的钢中第二相粒子的制样装置有效

专利信息
申请号: 201921802669.7 申请日: 2019-10-24
公开(公告)号: CN211318264U 公开(公告)日: 2020-08-21
发明(设计)人: 刘洋;李殿中 申请(专利权)人: 中国科学院金属研究所
主分类号: G01N23/2202 分类号: G01N23/2202;G01N23/2251
代理公司: 沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 21234 代理人: 张志伟
地址: 110016 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 均匀 铺展 聚集 表面 第二 粒子 装置
【说明书】:

本实用新型涉及钢中第二相粒子提取制样的技术领域,具体是给出了一种均匀铺展聚集在表面皿的钢中第二相粒子的制样装置。该制样装置包括铜箔、导电胶、T形支撑装置,具体结构如下:导电胶的两端分别安装铜箔,T形支撑装置为竖向部分和横向部分组合的一体结构,竖向部分为柱形,横向部分的上平面并与竖向部分连接,横向部分的下面为向下凸起的弧形面,导电胶贴附于该弧形面,导电胶两端的铜箔翻起至该上平面的两端部。本实用新型结构简单、实用性强,对于实验完成后沉积在表面皿底部的粉末,可以将其快速、均匀、平整地粘贴至导电胶上,有效避免转移粉末过程造成的污染,为第二相粒子的三维形貌研究提供高质量的样品。

技术领域

本实用新型涉及钢中第二相粒子提取制样的技术领域,具体是给出了一种均匀铺展聚集在表面皿的钢中第二相粒子的制样装置。

背景技术

钢中第二相粒子直接影响钢的力学性能和使用性能,因此第二相粒子的数量、尺寸和种类等特征是评定钢材质量的重要指标。由于二维金相法对第二相粒子观察的局限性,不能准确地显示第二相粒子的三维形貌,难以反映其完整信息,因此常采用提取第二相粒子的方式,对其进行三维形貌分析。目前主要采用化学侵蚀(如:酸、卤素-甲醇溶液等)和电解侵蚀两种方式来溶解钢基体,来收集得到第二相粒子进行观察。

将第二相粒子从钢的基体中分离后,一般采用淘洗或者浮选分离等方式进行提纯,之后将夹杂物聚集在收集容器中,便于制样。在题目为“Extraction,ThermodynamicAnalysis,and Precipitation Mechanism of MnS-TiN Complex Inclusions in Low-Sulfur Steels”(Metallurgical and Materials Transactions A,2016,47(6),3015-3025)等文章中介绍了非水溶液电解处理钢铁样品后,采用表面皿来分离阳极泥浑浊液中夹杂物粒子的方法。目前,常见的制样方法有过滤法和间接转移法,过滤法是将含有夹杂物的溶液通过一定孔径的滤纸,使大于该孔径的夹杂物存留在上面,喷碳后进行观察;间接转移法是将夹杂物聚集在容器底部后,采用干净的小棒粘取夹杂物至导电胶上,并用小棒对其进行铺展,可直接送至电镜下观察。两种方法均能够达到观察第二相粒子三维形貌的目的,但制样的过程不易控制,难以实现较高的成功率来制备高质量的样品。

公开号为CN 85105786的中国专利“超微试样超薄片的制备”提出一种采用电镀方法镶嵌超微试样,来对微米数量级的粒子样品进行制备。这种方法能够实现将粒子平整镀在金属薄片上,便于微观分析,但是操作步骤较为复杂,对实验条件要求较高。对于提取粒子的最理想处理方式是直接将其转移到目标载体,经过其他媒介进行转移,均会在不同程度对粒子造成污染。

实用新型内容

为了克服传统提取第二相粒子的样品制备方法的弊端,本实用新型的目的是提供一种均匀铺展聚集在表面皿的钢中第二相粒子的制样装置,提高了第二相粒子的制样效率,采用简单易行的方式进行扫描电镜的样品制备,使提取出的第二相粒子均匀铺展在导电胶上,更加清晰完整地获取夹杂物的信息。同时,由于采用直接将第二相粒子转移到导电胶上的制样方式,有效避免了不规范的制样操作引起的样品污染,能够更加真实地反应提取的第二相粒子的性状,进行高质量表征与合理评估。

为了达到上述目的,本实用新型提供的技术方案为:

一种均匀铺展聚集在表面皿的钢中第二相粒子的制样装置,该制样装置包括铜箔、导电胶、T形支撑装置,具体结构如下:

导电胶的两端分别安装铜箔,T形支撑装置为竖向部分和横向部分组合的一体结构,竖向部分为柱形,横向部分的上平面并与竖向部分连接,横向部分的下面为向下凸起的弧形面,导电胶贴附于该弧形面,导电胶两端的铜箔翻起至该上平面的两端部。

所述的均匀铺展聚集在表面皿的钢中第二相粒子的制样装置,还包括铜箔压制装置,通过铜箔压制装置将导电胶的两端固定在两个对折的铜箔内。

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