[实用新型]一种用于薄膜测试的双工位支架有效
| 申请号： | 201921513842.1 | 申请日： | 2019-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN211262938U | 公开（公告）日： | 2020-08-14 |
| 发明（设计）人： | 陈波 | 申请（专利权）人： | 上海洋阅新材料科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/02 | 分类号： | G01N3/02;G01N3/40 |
| 代理公司： | 上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙) 31297 | 代理人： | 李敏 |
| 地址： | 200120 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种用于薄膜测试的双工位支架，支架本体包括底座，支架本体顶面设置有T型支架，T型支架的横杆两端为接口端，两个接口端上均各自通过升降装置与纳米压痕仪本体连接；底座顶面两端分别设置有工作台，两个纳米压痕仪本体的压头分别与靠近其一侧工作台的顶面中心对应布置；升降装置包括立柱。本实用新型结构合理，满足了两工位同时进行薄膜检测的要求，提高了工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 薄膜 测试 双工 支架 | ||
【主权项】：
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