[实用新型]集成电路测试系统有效
| 申请号： | 201921060390.6 | 申请日： | 2019-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN210007709U | 公开（公告）日： | 2020-01-31 |
| 发明（设计）人： | 张悦 | 申请（专利权）人： | 合肥悦芯半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15;H04B17/29 |
| 代理公司： | 11463 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人： | 丁睿 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市经济*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供一种集成电路的测试系统，包括：测试单元；以及，射频单元，电性耦接于测试单元，包括射频模块，射频模块外置并电性耦接于测试单元。解决了现有技术中，由于射频ATE测试机台成本高，复杂程度高的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 测试单元 电性耦接 射频模块 测试系统 机台成本 射频单元 射频 外置 集成电路 申请 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路测试系统，其特征在于，所述系统包括：/n测试单元；以及，/n射频单元，电性耦接于所述测试单元，并具有射频模块，/n其中，所述射频模块外置并电性耦接于所述测试单元。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥悦芯半导体科技有限公司，未经合肥悦芯半导体科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201921060390.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：基于紧缩场的相控阵天线测试校准系统
- 下一篇：一种用于监测基站电磁辐射的系统
