[实用新型]一种半导体传感器检测装置有效

专利信息
申请号: 201920586761.8 申请日: 2019-04-26
公开(公告)号: CN210090331U 公开(公告)日: 2020-02-18
发明(设计)人: 郭鑫宇;肖娅;沈伟铭;冯小蔚 申请(专利权)人: 上海华魏科技股份有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 上海世圆知识产权代理有限公司 31320 代理人: 陈颖洁;王佳妮
地址: 201709 上海市青*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种半导体传感器检测装置,包括检测组件、机架以及设置在机架下端的带式输送机构,所述带式输送机构上沿输送带的移动方向设置有多个检测载盘,且每一检测载盘内均设置有呈一字型排列的多个待检传感器;所述机架内侧开设有滑槽,机架顶端安装有伸缩缸,且伸缩缸的输出端穿过机架并连接有滑动板;所述检测组件包括防护箱与设置在防护箱内的移动机构与检测机构,防护箱顶端封闭、底端开口,且其底端开口朝向检测载盘;所述滑动板与滑槽滑动连接,滑动板靠近防护箱的一端设置有连接杆,且其通过连接杆固接防护箱。本实用新型能够实现对自动半导体传感器进行良品检测,无需人工目测,大大降低人力成本,而且不会出现漏检问题。
搜索关键词: 一种 半导体 传感器 检测 装置
【主权项】:
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