[实用新型]一种超小型封装的测试装置有效

专利信息
申请号: 201920576028.8 申请日: 2019-04-25
公开(公告)号: CN210199149U 公开(公告)日: 2020-03-27
发明(设计)人: 杨林;徐银森;刘茜茜;颜色金 申请(专利权)人: 四川遂宁市利普芯微电子有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/28
代理公司: 成都华复知识产权代理有限公司 51298 代理人: 庞启成
地址: 629000 四川省成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型公开了一种超小型封装的测试装置,包括基座、测试座和PCB板,所述测试座上端通过螺栓连接有绝缘块,所述基座安装在测试座中间,所述测试座中间插接有陶瓷定位块,所述绝缘块端部设有与陶瓷定位块相匹配的凹槽,且所述陶瓷定位块突出绝缘块表面,所述PCB板卡合在绝缘块上,本实用新型将基座安装在测试座的绝缘块上,位于PCB板两片金手指的中心位置,当产品移动到测试位置时,陶瓷定位块托住元器件的下模部分,在将元器件压下去接触金手指的同时将产品定位准确,避开塑封体侧面溢胶及上模的误差,使元器件的管脚与金手指良好的接触,降低由于定位不准造成的误测,从而达到提升成品测试良率的目的。
搜索关键词: 一种 超小型 封装 测试 装置
【主权项】:
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