[实用新型]一种半导体化学气相沉淀装置金属面板测孔治具有效
申请号: | 201920540836.9 | 申请日: | 2019-04-19 |
公开(公告)号: | CN209470686U | 公开(公告)日: | 2019-10-08 |
发明(设计)人: | 陈智慧;朱光宇;张正伟;李泓波;贺贤汉 | 申请(专利权)人: | 富乐德科技发展(大连)有限公司 |
主分类号: | G01B21/14 | 分类号: | G01B21/14 |
代理公司: | 大连智高专利事务所(特殊普通合伙) 21235 | 代理人: | 盖小静 |
地址: | 116600 辽宁省大连市保税区*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种半导体化学气相沉淀装置金属面板测孔治具,属于气相沉淀装置测孔技术领域,包括治具本体,所述治具本体为一具有厚度的矩形板结构,所述治具本体上一侧设有对称设置的找正孔,所述治具本体中部开设有定位槽,所述定位槽为贯穿于治具本体的圆形通孔;所述定位槽的侧壁连接有定位环,所述定位环为一具有厚度和高度的圆环状结构,所述定位环上端面为阶梯状的台阶卡槽;所述治具本体的一角处连接有定位块,治具本体上定位块所在位置开设有底部定位孔。本治具节省测量时间,测孔位置固定,测量结果准确且有对比性。 | ||
搜索关键词: | 治具本体 沉淀装置 定位槽 定位环 测孔 治具 半导体化学 金属面板 本实用新型 矩形板结构 圆环状结构 侧壁连接 测孔位置 对称设置 上定位块 台阶卡槽 圆形通孔 定位孔 定位块 对比性 阶梯状 上端面 找正孔 测量 贯穿 | ||
【主权项】:
1.一种半导体化学气相沉淀装置金属面板测孔治具,其特征在于,包括治具本体(1),所述治具本体(1)为一具有厚度的矩形板结构,所述治具本体(1)上一侧设有对称设置的找正孔(2),所述治具本体(1)中部开设有定位槽(3),所述定位槽(3)为贯穿于治具本体(1)的圆形通孔;所述定位槽(3)的侧壁连接有定位环(4),所述定位环(4)为一具有厚度和高度的圆环状结构,所述定位环(4)上端面为阶梯状的台阶卡槽(5);所述治具本体(1)的一角处连接有定位块,治具本体(1)上定位块所在位置开设有底部定位孔(6)。
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