[实用新型]一种双工位芯片测试分选机有效
| 申请号： | 201920518897.5 | 申请日： | 2019-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN210125566U | 公开（公告）日： | 2020-03-06 |
| 发明（设计）人： | 莫健;陆军;陈尔军;郭文;吉俊 | 申请（专利权）人： | 扬州爱迪秀自动化科技有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/34 | 分类号： | B07C5/34;B07C5/02 |
| 代理公司： | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人： | 陈栋智 |
| 地址： | 225000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种双工位芯片测试分选机，包括安装在工作平台上的一对上料组件、一对测试组件、转盘组件、下压组件以及一对分料盒；上料组件用以将待测芯片输送至测试组件内；测试组件用以对待测芯片进行检测；转盘组件用以将上料组件内的待测芯片取出并送至测试组件内进行测试，最后送入分料盒进行分类；下压组件用以控制转盘组件上的吸嘴上下运动、吸取待测芯片；分料盒用以实现检测后的芯片进行分类收集，本实用新型中的直震送料轨道在震动过程中，吹气管将粘连在一起的芯片分离，压针将叠加在一起的待测芯片分离，保证转盘组件上的吸嘴可准确的吸取待测芯片，从而提高了生产效率，可用于芯片测试中。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 双工 芯片 测试 分选 | ||
【主权项】：
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