[实用新型]一种M.2 PCIE信号测试治具有效
| 申请号： | 201920486633.6 | 申请日： | 2019-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN209927982U | 公开（公告）日： | 2020-01-10 |
| 发明（设计）人： | 朱黎;郝延飞 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 37105 济南诚智商标专利事务所有限公司 | 代理人： | 王汝银 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型提出了一种M.2 PCIE信号测试治具，测试治具为NVME固态硬盘结构。测试治具板卡的前端为M.2 PCIE金手指，且PCIE金手指上设置有安装孔，测试治具板卡的尾端设置有卡扣凹槽。其中安装孔的位置可以在金手指中线的上方或者下方，在M.2连接器与PCIE金手指上的安装孔连接测试时，安装孔的位置使Clock信号和TX信号位于测试治具板卡的表层，增加了测试的便利性。测试治具板卡的底层包括线缆固定卡扣；固定卡扣为分片式卡扣，方便测试线缆的固定与引出，同时避免安装过程中测试点的松动造成的不稳定连接。本实用新型可满足任意结构下的PCIE信号的测试，保证板卡信号完整性测试，提供产品性能。 | ||
| 搜索关键词： | 测试治具 板卡 安装孔 金手指 本实用新型 卡扣 信号完整性测试 连接器 测试 安装过程 测试线缆 产品性能 固定卡扣 固态硬盘 卡扣凹槽 连接测试 稳定连接 线缆固定 便利性 测试点 分片式 尾端 松动 保证 | ||
【主权项】：
1.一种M.2 PCIE信号测试治具，其特征在于，所述测试治具为NVME固态硬盘结构；/n所述测试治具板卡的前端为M.2 PCIE金手指，且所述PCIE金手指上设置有安装孔；所述测试治具板卡的尾端设置有卡扣凹槽；/n在M.2连接器与PCIE金手指上的安装孔连接测试时，所述安装孔的位置使Clock信号和TX信号位于所述测试治具板卡的表层；/n所述测试治具板卡的底层包括线缆固定卡扣；所述固定卡扣为分片式卡扣。/n
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