[实用新型]一种M.2 PCIE信号测试治具

说明书

本实用新型提出了一种M.2 PCIE信号测试治具，测试治具为NVME固态硬盘结构。测试治具板卡的前端为M.2 PCIE金手指，且PCIE金手指上设置有安装孔，测试治具板卡的尾端设置有卡扣凹槽。其中安装孔的位置可以在金手指中线的上方或者下方，在M.2连接器与PCIE金手指上的安装孔连接测试时，安装孔的位置使Clock信号和TX信号位于测试治具板卡的表层，增加了测试的便利性。测试治具板卡的底层包括线缆固定卡扣；固定卡扣为分片式卡扣，方便测试线缆的固定与引出，同时避免安装过程中测试点的松动造成的不稳定连接。本实用新型可满足任意结构下的PCIE信号的测试，保证板卡信号完整性测试，提供产品性能。

技术领域

本实用新型涉及信号测试治具技术领域，具体提供了一种M.2 PCIE信号测试治具。

背景技术

M.2接口，是Intel推出的一种替代MSATA新的接口规范。与MSATA相比， M.2主要有两个方面的优势。第一是速度方面的优势。M.2接口有两种类型： Socket 2(B key——ngff)和Socket 3(M key——nvme)。Socket2支持SATA、PCI-E X2接口，而如果采用PCI-E×2接口标准，最大的读取速度可以达到700MB/s，写入也能达到550MB/s。而其中的Socket 3可支持PCI-E×4 接口，理论带宽可达4GB/s。第二个是体积方面的优势。虽然，MSATA的固态硬盘体积已经足够小了，但相比M.2接口的固态硬盘，MSATA仍然没有任何优势可言。M.2标准的SSD同mSATA一样可以进行单面NAND闪存颗粒的布置，也可以进行双面布置，其中单面布置的总厚度仅有2.75mm，而双面布置的厚度也仅为3.85mm。而mSATA在体积上的劣势就明显的多。另外，即使在大小相同的情况下，M.2也可以提供更高的存储容量。

目前M.2 PCIE业界常用的是Wilder Technology设计的2款测试治具， Socket 2与Socket 3，Socket 2治具板卡尺寸较大，测试时经常会遇到结构干涉无法测试的情况。PCI-E Socket 3试治具板卡尺寸较大，且连接稳定性差，测试时经常会遇到结构干涉无法测试的情况，导致存在很大的局限性。

发明内容

针对以上缺点，本实用新型实施例提出了一种M.2 PCIE信号测试治具，可以满足不同结构下链路的M.2 PCIE信号的全覆盖测试。

一种M.2 PCIE信号测试治具，所述测试治具为NVME固态硬盘结构；

所述测试治具板卡的前端为M.2 PCIE金手指，且所述PCIE金手指上设置有安装孔；所述测试治具板卡的尾端设置有卡扣凹槽；

在M.2连接器与PCIE金手指上的安装孔连接测试时，所述安装孔的位置使Clock信号和TX信号位于所述测试治具板卡的表层；

所述测试治具板卡的底层包括线缆固定卡扣；所述固定卡扣为分片式卡扣。

进一步的，所述安装孔的位置位于所述PCIE金手指中线的上方或下方。

进一步的，所述线缆固定卡扣包括第一固定卡扣、第二固定卡扣和L型弹片；

所述L型弹片的一端与第一固定卡扣的上端固定，并且所述L型弹片绕第一固定卡扣旋转至与所述第二固定卡扣重合。

进一步的，所述测试治具为4层PCB板，包括表层、底层、L2层和L3层；

所述表层为Clock与PCIE TX信号的连接器层；

所述底层为PCIE RX连接器层；

所述L2层和L3层均为信号层。

进一步的，所述L2层用于传输4对PCIE TX信号及4对Clock信号；

所述L3层用于传输4对RX信号。