[实用新型]一种M.2 PCIE信号测试治具有效

专利信息
申请号: 201920486633.6 申请日: 2019-04-11
公开(公告)号: CN209927982U 公开(公告)日: 2020-01-10
发明(设计)人: 朱黎;郝延飞 申请(专利权)人: 苏州浪潮智能科技有限公司
主分类号: G01R31/317 分类号: G01R31/317
代理公司: 37105 济南诚智商标专利事务所有限公司 代理人: 王汝银
地址: 215100 江苏省苏州市吴*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 测试治具 板卡 安装孔 金手指 本实用新型 卡扣 信号完整性测试 连接器 测试 安装过程 测试线缆 产品性能 固定卡扣 固态硬盘 卡扣凹槽 连接测试 稳定连接 线缆固定 便利性 测试点 分片式 尾端 松动 保证
【权利要求书】:

1.一种M.2 PCIE信号测试治具,其特征在于,所述测试治具为NVME固态硬盘结构;

所述测试治具板卡的前端为M.2 PCIE金手指,且所述PCIE金手指上设置有安装孔;所述测试治具板卡的尾端设置有卡扣凹槽;

在M.2连接器与PCIE金手指上的安装孔连接测试时,所述安装孔的位置使Clock信号和TX信号位于所述测试治具板卡的表层;

所述测试治具板卡的底层包括线缆固定卡扣;所述固定卡扣为分片式卡扣。

2.根据权利要求1所述的一种M.2 PCIE信号测试治具,其特征在于,所述安装孔的位置位于所述PCIE金手指中线的上方或下方。

3.根据权利要求1所述的一种M.2 PCIE信号测试治具,其特征在于,所述线缆固定卡扣包括第一固定卡扣、第二固定卡扣和L型弹片;

所述L型弹片的一端与第一固定卡扣的上端固定,并且所述L型弹片绕第一固定卡扣旋转至与所述第二固定卡扣重合。

4.根据权利要求1所述的一种M.2 PCIE信号测试治具,其特征在于,所述测试治具为4层PCB板,包括表层、底层、L2层和L3层;

所述表层为Clock与PCIE TX信号的连接器层;

所述底层为PCIE RX连接器层;

所述L2层和L3层均为信号层。

5.根据权利要求4所述的一种M.2 PCIE信号测试治具,其特征在于,

所述L2层用于传输4对PCIE TX信号及4对Clock信号;

所述L3层用于传输4对RX信号。

6.根据权利要求4或5所述的一种M.2 PCIE信号测试治具,其特征在于,所述L2层与L3层之间设置用于隔离信号的PP层。

7.根据权利要求5所述的一种M.2 PCIE信号测试治具,其特征在于,所述PCIE TX信号的走线线长、Clock信号的走线线长和RX信号的走线线长均相同。

8.根据权利要求5所述的一种M.2 PCIE信号测试治具,其特征在于,所述PCIE TX信号与RX信号采用垂直交叉走线。

9.根据权利要求1所述的一种M.2 PCIE信号测试治具,其特征在于,所述测试治具的连接器为SMP连接器。

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