[发明专利]LDMOS器件及其制备方法在审
申请号: | 201911418179.1 | 申请日: | 2019-12-31 |
公开(公告)号: | CN113130649A | 公开(公告)日: | 2021-07-16 |
发明(设计)人: | 李佳豪;金华俊 | 申请(专利权)人: | 无锡华润上华科技有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06;H01L29/40;H01L21/336 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 史治法 |
地址: | 214028 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种LDMOS器件,一种LDMOS器件,包括:基底;漂移区,位于基底内;若干个间隔排布的沟槽,位于漂移区内;若干个金属场板,分别位于各沟槽内;隔离介质层,至少位于金属场板与沟槽内壁之间。间隔排布的沟槽使得金属场板能够有效的深入漂移区内部,从而形成多维度的耗尽效果,同时,由于间隔排布的沟槽之间的漂移区保留了漂移区表面的载流子通道,LDMOS器件的载流子基本是沿着漂移区的表面流动,相较于载流子沿着沟槽的侧壁和沟槽的底壁绕过沟槽,载流子的运动途径更短,能够有效的降低LDMOS器件的导通电阻。 | ||
搜索关键词: | ldmos 器件 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
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