[发明专利]一种SMD型谐振器石英晶片外观检测设备及检测方法在审
| 申请号： | 201911395417.1 | 申请日： | 2019-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN111130460A | 公开（公告）日： | 2020-05-08 |
| 发明（设计）人： | 张淼;郑玉南;狄建兴;周志勇;周荣伟 | 申请（专利权）人： | 唐山国芯晶源电子有限公司 |
| 主分类号： | H03B5/32 | 分类号： | H03B5/32 |
| 代理公司： | 石家庄冀科专利商标事务所有限公司 13108 | 代理人： | 汤志强 |
| 地址： | 064100 河北*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 一种SMD型谐振器石英晶片外观检测设备及检测方法，在其检测设备中设置上料装置、供料盘组件、侧壁检测装置、主面检测装置、分类收纳盒和机械手；所述上料装置逐个将待检测工件输送至供料盘组件的供料转盘上；在供料盘组件中还设有供料电机，通过供料电机驱动供料转盘旋转；所述侧壁检测装置的旋转架由旋转架电机驱动运转，并通过升降机构驱动激光检测器上下移动；所述主面检测装置中分检盘由分检盘电机驱动运转，旋转吸嘴由旋转吸嘴电机驱动运转，主面照相机置于分检盘上方。采用本发明所述检测设备及检测方法对SMD型谐振器石英晶片进行外观检测，达到了提高检测结果可靠性、保证石英晶片符合设计要求、实现检测工序与生产线节拍一致性的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 smd 谐振器 石英 晶片 外观 检测 设备 方法 | ||
【主权项】：
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