[发明专利]一种SMD型谐振器石英晶片外观检测设备及检测方法在审

专利信息
申请号: 201911395417.1 申请日: 2019-12-30
公开(公告)号: CN111130460A 公开(公告)日: 2020-05-08
发明(设计)人: 张淼;郑玉南;狄建兴;周志勇;周荣伟 申请(专利权)人: 唐山国芯晶源电子有限公司
主分类号: H03B5/32 分类号: H03B5/32
代理公司: 石家庄冀科专利商标事务所有限公司 13108 代理人: 汤志强
地址: 064100 河北*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 smd 谐振器 石英 晶片 外观 检测 设备 方法
【权利要求书】:

1.一种SMD型谐振器石英晶片外观检测设备,其特征是,沿工件行进方向依次设置上料装置(1)、供料盘组件(2)、侧壁检测装置、主面检测装置和分类收纳盒(11),在供料盘组件(2)、侧壁检测装置和主面检测装置上方设置机械手(4);所述上料装置(1)逐个将待检测工件输送至供料盘组件(2)的供料转盘(2-2)上;在所述供料盘组件(2)中还设有供料电机(2-1),通过供料电机(2-1)驱动供料转盘(2-2)旋转;所述侧壁检测装置包括旋转组件(5)和检测器组件(6),在所述旋转组件(5)中,旋转架(5-2)由旋转架电机(5-1)驱动运转,在检测器组件(6)中设置激光检测器(6-1)、升降机构和支撑架(6-6),所述激光检测器(6-1)与旋转架(5-2)相对布置,通过安装在支撑架(6-6)上的升降机构驱动激光检测器(6-1)上下移动;所述主面检测装置包括主面照相机(9)、分检盘组件(8)和旋转吸嘴组件(10),所述分检盘组件(8)设有分检盘(8-2)和分检盘电机(8-1),所述分检盘(8-2)由分检盘电机(8-1)驱动运转,所述旋转吸嘴组件(10)设有旋转吸嘴(10-1)和旋转吸嘴电机(10-2),所述旋转吸嘴(10-1)由旋转吸嘴电机(10-2)驱动运转,所述主面照相机(9)置于分检盘(8-2)上方 。

2.根据权利要求1所述的SMD型谐振器石英晶片外观检测设备,其特征是,所述侧壁检测装置中升降机构包括升降电机(6-5)、减速器(6-3)、丝杠(6-4)和螺母升降块(6-2);所述升降电机(6-5)固定在支撑架(6-6)上,其动力输出端与减速器(6-3)连接;所述减速器(6-3)的输出轴与丝杠(6-4)固定装配;所述丝杠(6-4)与螺母升降块(6-2)配合组成丝杠螺母传动单元;所述螺母升降块(6-2)与激光检测器(6-1)固定装配。

3.根据权利要求1或2所述的SMD型谐振器石英晶片外观检测设备,其特征是,所述上料装置(1)包括上料架(1-5)、振动电机(1-1)、凸轮(1-2)、储料盘(1-3)和复位弹簧(1-4);所述储料盘(1-3)的出料口处设有导料槽,储料盘(1-3)的出料口与供料盘组件(2)的供料转盘(2-2)对接,储料盘(1-3)底面中部通过销轴(1-6)与上料架(1-5)铰接装配,在储料盘(1-3)底面另一端与上料架(1-5)之间安装复位弹簧(1-4);所述振动电机(1-1)固定在上料架(1-5)上,在其输出轴上安装凸轮(1-2)。

4.根据权利要求3所述的SMD型谐振器石英晶片外观检测设备,其特征是,所述储料盘(1-3)底面为便于工件向出料口滑动的倾斜面。

5.根据权利要求4所述的SMD型谐振器石英晶片外观检测设备,其特征是,所述机械手(4)包括左右移动组件、前后移动组件、升降组件和吸头(4-7);所述左右移动组件设有左右移动导轨(4-1)和左右移动滑块(4-2),所述左右移动导轨(4-1)固定安装在外观检测设备机架上,在左右移动导轨(4-1)上配装左右移动滑块(4-2);所述前后移动组件包括前后移动导轨(4-3)和前后移动滑块(4-4),所述前后移动导轨(4-3)与左右移动滑块(4-2)固定装配,在前后移动导轨(4-3)上配装前后移动滑块(4-4);所述升降组件包括升降导轨(4-5)和升降滑块(4-6),所述升降导轨(4-5)固定在前后移动滑块(4-4)底部,在升降导轨(4-5)上配装升降滑块(4-6);所述吸头(4-7)固定在升降滑块(4-6)的底部,吸头(4-7)与生产线的真空系统管路连接。

6.根据权利要求1所述的SMD型谐振器石英晶片外观检测设备,其特征是,在所述侧壁检测装置和主面检测装置之间设置不合格品第一收纳盒(7)。

7.根据权利要求1所述的SMD型谐振器石英晶片外观检测设备及检测方法,其特征是,所述分类收纳盒(11)包括合格品收纳盒(11-1)和不合格品第二收纳盒(11-2),所述合格品收纳盒(11-1)和不合格品第二收纳盒(11-2)左右对称布置。

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