[发明专利]一种SMD型谐振器石英晶片外观检测设备及检测方法

说明书

一种SMD型谐振器石英晶片外观检测设备及检测方法，在其检测设备中设置上料装置、供料盘组件、侧壁检测装置、主面检测装置、分类收纳盒和机械手；所述上料装置逐个将待检测工件输送至供料盘组件的供料转盘上；在供料盘组件中还设有供料电机，通过供料电机驱动供料转盘旋转；所述侧壁检测装置的旋转架由旋转架电机驱动运转，并通过升降机构驱动激光检测器上下移动；所述主面检测装置中分检盘由分检盘电机驱动运转，旋转吸嘴由旋转吸嘴电机驱动运转，主面照相机置于分检盘上方。采用本发明所述检测设备及检测方法对SMD型谐振器石英晶片进行外观检测，达到了提高检测结果可靠性、保证石英晶片符合设计要求、实现检测工序与生产线节拍一致性的目的。

技术领域

本发明涉及一种检测设备及检测方法，尤其是一种匹配SMD型谐振器的石英晶片外观检测设备及检测方法。

背景技术

谐振器主要起频率控制的作用，所有涉及频率的发射和接收的电子产品都需要配置谐振器，谐振器按照装配方式可以分为直插（带有引线）和贴片式（无引线的SMD型谐振器）两种。目前随着电子产品不断向小型化方向快速发展，为之配套的元器件也呈现小型化发展态势，因此SMD型谐振器在中高端电子产品领域备受青睐。

石英晶体不仅具有压电效应，而且还具有优良的机械特性、电学特性和温度特性，用它设计制作的谐振器在稳频和选频方面都有突出的优点。石英晶片是石英晶体中的核心部件，不同切型的石英晶片电学特性和温度特性各异，其中AT切石英晶片存在较大的频率热过冲现象，幅频效应较大，不能满足部分频点或特殊要求，而FC、SC切石英晶片与AT切石英晶片比较虽然优点很多，但现有技术中FC、SC切石英晶片均为圆形晶片，采用直插上架方式，难以匹配SMD型谐振器的安装结构。为解决上述问题， SC、FC切型矩形石英晶片应运而生，而为了满足该SC、FC切型矩形石英晶片的精度要求、保证晶片边缘和侧壁崩边及坑点尺寸、数量在相关标准要求的范围内，需要对其主面及侧壁进行严格检测。目前针对石英晶片的检测问题，一般采用人工目测方式，不仅检测结果可靠性较差，也难以实现检测工序与生产线节拍的一致性。

发明内容

本发明提供一种SMD型谐振器石英晶片外观检测设备及检测方法，旨在通过该外观检测设备及检测方法，达到提高检测结果可靠性、保证石英晶片符合设计要求、实现检测工序与生产线节拍一致性的目的。

为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

一种SMD型谐振器石英晶片外观检测设备，沿工件行进方向依次设置上料装置、供料盘组件、侧壁检测装置、主面检测装置和分类收纳盒，在供料盘组件、侧壁检测装置和主面检测装置上方设置机械手；所述上料装置逐个将待检测工件输送至供料盘组件的供料转盘上；在所述供料盘组件中还设有供料电机，通过供料电机驱动供料转盘旋转；所述侧壁检测装置包括旋转组件和检测器组件，在所述旋转组件中，旋转架由旋转架电机驱动运转，在检测器组件中设置激光检测器、升降机构和支撑架，所述激光检测器与旋转架相对布置，通过安装在支撑架上的升降机构驱动激光检测器上下移动；所述主面检测装置包括主面照相机、分检盘组件和旋转吸嘴组件，所述分检盘组件设有分检盘和分检盘电机，所述分检盘由分检盘电机驱动运转，所述旋转吸嘴组件设有旋转吸嘴和旋转吸嘴电机，所述旋转吸嘴由旋转吸嘴电机驱动运转，所述主面照相机置于分检盘上方。

上述SMD型谐振器石英晶片外观检测设备，所述侧壁检测装置中升降机构包括升降电机、减速器、丝杠和螺母升降块；所述升降电机固定在支撑架上，其动力输出端与减速器连接；所述减速器输出轴与丝杠固定装配；所述丝杠与螺母升降块配合组成丝杠螺母传动单元；所述螺母升降块与激光检测器固定装配。

上述SMD型谐振器石英晶片外观检测设备，所述上料装置包括上料架、振动电机、凸轮、储料盘和复位弹簧；所述储料盘出料口处设有导料槽，储料盘的出料口与供料盘组件的供料转盘对接，储料盘底面中部通过销轴与上料架铰接装配，在储料盘底面另一端与上料架之间安装复位弹簧；所述振动电机固定在上料架上，在其输出轴上安装凸轮。