[发明专利]发光二极管晶圆以及发光二极管晶圆检测装置与方法在审
| 申请号： | 201911392345.5 | 申请日： | 2019-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN112798923A | 公开（公告）日： | 2021-05-14 |
| 发明（设计）人： | 廖建硕;张德富;卢俊安 | 申请（专利权）人： | 台湾爱司帝科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 李子光 |
| 地址： | 中国*** | 国省代码： | 台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种发光二极管晶圆以及发光二极管晶圆检测装置与方法。发光二极管晶圆包括一晶圆基底以及设置在晶圆基底上的多个发光二极管芯片、多个测试用正极线路层、多个测试用负极线路层、多个测试用正极接点以及多个测试用负极接点。每一发光二极管芯片的一正极接点与一负极接点分别电性连接于相对应的测试用正极线路层与相对应的测试用负极线路层。多个测试用正极接点分别电性连接于多个测试用正极线路层，多个测试用负极接点分别电性连接于多个测试用负极线路层。借此，让电流由多个测试用正极接点输入后，再从多个测试用负极接点输出，以便于激发每一发光二极管芯片产生一光源。 | ||
| 搜索关键词： | 发光二极管 以及 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾爱司帝科技股份有限公司，未经台湾爱司帝科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911392345.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：医疗数据处理系统及方法
- 下一篇：钕铁硼永磁材料表面处理方法及永磁材料制品
