[发明专利]基于软件自检在HALT试验中快速激发并定位故障的检测方法在审
| 申请号： | 201911369232.3 | 申请日： | 2019-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN111190407A | 公开（公告）日： | 2020-05-22 |
| 发明（设计）人： | 冯长卿;李红伟;魏明然;胡亚欣;赵鸿斌;柯晓天 | 申请（专利权）人： | 中国家用电器研究院 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人： | 张立改 |
| 地址： | 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 基于软件自检在HALT试验中快速激发并定位故障的检测方法，属于检测技术领域。对含有MCU的电路板，按照HALT试验的步骤，进行低温步进、高温步进、高低温快速循环、振动步进、温度与振动的综合应力的测试，利用较高的环境应力在短时间内激发出产品的缺陷；同时，在MCU中利用附加的软件自检程序，对于CPU、中断、时钟、存储器、内部数据路径、外部通讯、输入输出(I/O)等组件进行故障检查，从而快速激发并定位MCU及相关电子电路故障点。本发明提升检测效率，降低检测成本。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 软件 自检 halt 试验 快速 激发 定位 故障 检测 方法 | ||
【主权项】：
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