[发明专利]基于软件自检在HALT试验中快速激发并定位故障的检测方法

权利要求书

1.一种基于软件自检程序在HALT试验中快速激发并定位MCU及相关电子电路故障的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

对含有MCU的电路板，按照HALT试验的步骤，进行低温步进、高温步进、高低温快速循环、振动步进、温度与振动的综合应力的测试，利用较高的环境应力在短时间内激发出产品的缺陷；同时，在MCU中利用附加的软件自检程序，对于CPU、中断、时钟、存储器、内部数据路径、外部通讯、输入输出(I/O)等组件进行故障检查，从而快速激发并定位MCU及相关电子电路故障点。

2.按照权利要求1所述的一种基于软件自检程序在HALT试验中快速激发并定位MCU及相关电子电路故障的检测方法，其特征在于，所述HALT试验方法，包括5个步骤组成，即低温步进、高温步进、高低温快速循环、振动步进、温度与振动的综合应力等5个测试步骤；

所述的低温步进的试验方法，低温步进的温度范围为常温至-100℃，利用液氮进行制冷，用于确定产品的低温工作极限、破坏极限；

所述的高温步进的试验方法，高温步进的温度范围为常温至+200℃，利用电加热丝进行制热，用于确定产品的高温工作极限、破坏极限；

所述的高低温快速循环的试验方法，在产品高、低温工作极限温度范围内以最快40-60℃/min的速率循环；

所述的振动步进的试验方法，振动为3轴6自由度的随机振动，加速度量级范围为0grms至70grms且不为0，用于确定产品的振动工作极限、破坏极限；

所述的温度与振动的综合应力试验方法，在高、低温工作极限温度范围内快速循环，同时以振动步进方式叠加振动应力，所述的快速循环为以最快40-60℃/min的速率循环。

3.按照权利要求1所述的一种基于软件自检程序在HALT试验中快速激发并定位MCU及相关电子电路故障的检测方法，其特征在于，所述的在MCU中利用附加的软件自检程序，为向MCU的自检软件中利用添加的自检程序，对于CPU、中断、时钟、存储器、内部数据路径、外部通讯、输入输出(I/O)等组件进行故障检查。所述的在MCU中利用附加的软件自检程序，是在原有产品基本功能代码的基础上添加周期性自检程序或代码，添加的周期性自检程序或代码用于对所述的CPU、中断、时钟、存储器、内部数据路径、外部通讯、输入输出(I/O)等组件进行故障检查。

4.按照权利要求3所述的一种基于软件自检程序在HALT试验中快速激发并定位MCU及相关电子电路故障的检测方法，其特征在于，

所述的针对CPU部件的软件自检程序，检查寄存器某些位固定在开路、“0”或“1”状态且不发生变化的故障；检查程序计数器某些位固定在开路、“0”或“1”状态且不发生变化的故障；

所述的针对中断部件的软件自检程序，检查没有中断或者中断频繁的故障；

所述的针对时钟部件的软件自检程序，检查时钟频率错误的故障；

所述的针对存储器部件的软件自检程序，检查非易失存储器的所有单个位故障；检查易失存储器的信号线间短路的故障；检查存储器寻址某些位固定在开路、“0”或“1”状态且不发生变化的故障；

所述的针对内部数据路径部件的软件自检程序，检查数据某些位固定在开路、“0”或“1”状态且不发生变化的故障；检查错误寻址的故障；

所述的针对外部通讯部件的软件自检程序，检查数据传输的故障；

所述的针对输入输出(I/O)部件的软件自检程序，检查数字I/O与相邻管脚短路、与MCU供电电源或地短路、采样输入值超预定范围的故障；检查模数和数模转换器管脚与相邻管脚短路、与MCU供电电源或地短路、采样输入值超预定范围的故障；检查模拟量多路复用器的错误寻址故障。