[发明专利]一种光器件的性能检测系统及其测试方法有效
| 申请号： | 201911179625.8 | 申请日： | 2019-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN111092652B | 公开（公告）日： | 2022-07-15 |
| 发明（设计）人： | 陈涛;张翔 | 申请（专利权）人： | 上海传输线研究所(中国电子科技集团公司第二十三研究所) |
| 主分类号： | H04B10/079 | 分类号： | H04B10/079 |
| 代理公司： | 上海市汇业律师事务所 31325 | 代理人： | 张保颖 |
| 地址： | 200437 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及光通信技术领域，具体为涉及一种光器件的性能检测系统及测试方法。其特征在于：包括了光模块1、一入多出的光开关2、多入一出的光开关3、功率探测模块4、微控单元MCU5、串口6、模拟电压采集电路7、PC上位机8、光模块控制电路9、一入多出逻辑门控制电路10、多入一出逻辑门控制电路11。本发明通过集成了光源功能，光功率计功能以及光路切换功能，使其可以通过上位机直接控制与读取光源，光功率，光通道，因而待测器件只需要连接一次，提升了效率并降低了测试误差，能一次性的测量出光器件的插入损耗、波长一致性以及通道相关损耗，缩短测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 器件 性能 检测 系统 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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