[发明专利]一种光器件的性能检测系统及其测试方法

说明书

本发明涉及光通信技术领域，具体为涉及一种光器件的性能检测系统及测试方法。其特征在于：包括了光模块1、一入多出的光开关2、多入一出的光开关3、功率探测模块4、微控单元MCU5、串口6、模拟电压采集电路7、PC上位机8、光模块控制电路9、一入多出逻辑门控制电路10、多入一出逻辑门控制电路11。本发明通过集成了光源功能，光功率计功能以及光路切换功能，使其可以通过上位机直接控制与读取光源，光功率，光通道，因而待测器件只需要连接一次，提升了效率并降低了测试误差，能一次性的测量出光器件的插入损耗、波长一致性以及通道相关损耗，缩短测试时间。

技术领域

本发明涉及光通信技术领域，具体为涉及一种光器件的性能检测系统及测试方法。

背景技术

伴随着科技的飞速进步，光通信成为了主流的通信方式，光连接器、光耦合器、光复用器、光开关等各种光器已经成为此领域中必不可少的部分。然而每个光器件之间，同一个光器件不同通道之间，都存在差异性，所以通道的插入损耗和通道一致性的指标已经成为每个光器件的重要指标。为增加光通信的可靠性和准确度，在光器件的出厂时，须进行性能测试。若为单通道器件，需进行插入损耗测试；若为多通道器件，需进行通道一致性测试。而由于光器件所工作的波长的多样性、检测过程的繁杂性，导致检测过程中精度和效率低下。

常规光器件性能测试过程一般需用到多波长光源和功率计，首先用光源接入光功率计，测出基准光功率，然后用光源接光器件的一个输入端，功率计接光器件一个的输出端，测一组数据与基准光功率比较，然后再拔掉光器件的输入和输出，接上另外一个通道，继续测量。如果有波长一致性指标，还需要调节光源的波长并重复上述过程。

针对现在的测量方法，目前存在的缺陷有：(1)需要多次拔插，容易造成光功率计和光源的探测传感器变脏，造成测量一致性低；(2)测量时间较长，人工成本较高；(3)若待测器件为多通道器件，其通道一致性和波长一致性指标将会耗费更多的时间和人工。

发明内容

本发明为了能够很好地克服现有技术中，测量过程繁琐、测量数据可靠性较低的问题，提出了一种新型的光器件的性能检测系统及测试方法，其具体方法为；

一种光器件的性能检测系统，其特征在于：包括了光模块1、一入多出的光开关2、多入一出的光开关3、功率探测模块4、微控单元MCU5、串口6、模拟电压采集电路7、PC上位机8、光模块控制电路9、一入多出逻辑门控制电路10、多入一出逻辑门控制电路11；所述光模块1的光源输出端与所述一入多出的光开关2的输入端熔接，所述一入多出光开关2的输出端与待测器件12的输入端相连，所述待测器件12的输出端与所述多入一出的光开关3相连，所述多入一出的光开关3的输出端与所述功率探测模块4熔接，所述微控单元MCU5的一路通过所述光模块控制电路9控制所述光模块1，所述微控单元MCU5的另一路通过所述一入多出逻辑门控制电路10控制所述一入多出光开关2，所述微控单元MCU5的另一路通过所述多入一出逻辑门控制电路11控制所述多入一出光开关3，所述微控单元MCU5的另一路通过所述模拟电压采集电路7采集并记录所述功率探测模块4探测到的光功率值，所述微控单元MCU5的另一路通过所述串口6与所述PC上位机8连接。

一种基于所述的一种光器件的性能检测系统的测试方法，其特征在于：包括了

第一步：

将所述待测器件12所有的输入光纤连接器插入所述一入多出的光开关2的输出端口，再将所述待测器件12所有的输出光纤连接器插入多入一出的光开关3的输入接口；

第二步：

通过所述PC上位机8上的按钮，控制光开关2的通道切换，使得所述光模块1的光功率输出到所述功率探测模块4的对应通道上；

第三步：

所述PC上位机8通过所述串口6往所述微控单元MCU5下发指令；

第四步：