[发明专利]一种光器件的性能检测系统及其测试方法

权利要求书

1.一种光器件的性能检测系统，其特征在于：包括了光模块(1)、一入多出的光开关(2)、多入一出的光开关(3)、功率探测模块(4)、微控单元MCU(5)、串口(6)、模拟电压采集电路(7)、PC上位机(8)、光模块控制电路(9)、一入多出逻辑门控制电路(10)、多入一出逻辑门控制电路(11)；所述光模块(1)的光源输出端与所述一入多出的光开关(2)的输入端熔接，所述一入多出光开关(2)的输出端与待测器件(12)的输入端相连，所述待测器件(12)的输出端与所述多入一出的光开关(3)相连，所述多入一出的光开关(3)的输出端与所述功率探测模块(4)熔接，所述微控单元MCU(5)的一路通过所述光模块控制电路(9)控制所述光模块(1)，所述微控单元MCU(5)的另一路通过所述一入多出逻辑门控制电路(10)控制所述一入多出光开关(2)，所述微控单元MCU(5)的另一路通过所述多入一出逻辑门控制电路(11)控制所述多入一出光开关(3)，所述微控单元MCU(5)的另一路通过所述模拟电压采集电路(7)采集并记录所述功率探测模块(4)探测到的光功率值，所述微控单元MCU(5)的另一路通过所述串口(6)与所述PC上位机(8)连接。

2.一种基于权利要求1所述的一种光器件的性能检测系统的测试方法，其特征在于：包括了

第一步：

将所述待测器件(12)所有的输入光纤连接器插入所述一入多出的光开关(2)的输出端口，再将所述待测器件(12)所有的输出光纤连接器插入多入一出的光开关(3)的输入接口；

第二步：

通过所述PC上位机(8)上的按钮，控制光开关(2)的通道切换，使得所述光模块(1)的光功率输出到所述功率探测模块(4)的对应通道上；

第三步：

所述PC上位机(8)通过所述串口(6)往所述微控单元MCU(5)下发指令；

第四步：

所述微控单元MCU(5)通过所述光模块控制电路(9)，控制打开所述光模块(1)，并输出指定波长和功率的光；

第五步：

所述微控单元MCU(5)通过所述一入多出逻辑门控制电路(10)控制所述一入多出光开关(2)，切换到A通道；

第六步：

所述微控单元MCU(5)通过所述多入一出逻辑门控制电路(11)控制所述多入一出光开关(3)，切换到A通道；

第七步：

所述微控单元MCU(5)通过所述模拟电压采集电路(7)采集并记录所述功率探测模块(4)测得的光功率值P_{in_A_A}；

第八步：

所述微控单元MCU(5)通过所述串口(6)将待测器件的通道插损值P_nIL上传给所述PC上位机(8)显示；

第九步：

通过操作所述PC上位机(8)改变光路通道为B通道，测试出光模块(1)经过所述待测器件(12)之后的所有通道的功率值P_{in_B_B}，再使用公式

P_1IL＝P_{in_A_A}-P_{in_B_B}

P_1IL为通道的插损值，P_{in_A_A}为A通道的探测功率值，P_{in_B_B}为B通道的探测功率值；

并循环步骤1至步骤8，从而测试出该器件所有通道的插损值P_nIL，其中n为通道数，P_nIL即为待测器件的所有通道插损值。