[发明专利]一种峰值检测单元及检测系统及检测方法在审
| 申请号： | 201911175147.3 | 申请日： | 2019-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN110780108A | 公开（公告）日： | 2020-02-11 |
| 发明（设计）人： | 黄金星 | 申请（专利权）人： | 广东晟合技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/04 | 分类号： | G01R19/04;G01R19/165;G01R31/26;G01R31/27 |
| 代理公司： | 44479 深圳大域知识产权代理有限公司 | 代理人： | 陆华君 |
| 地址： | 526070 广东省肇庆市鼎湖区桂城新*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种峰值检测单元及检测系统及检测方法，用于检测待测芯片中ESD二极管是否损坏。峰值检测单元包括的第一运算放大器A1的正输入端与输入端口P1电连接，第一运算放大器A1的负输入端与VSS端口P5电连接，第一运算放大器A1的输出端与引脚连接端口P3电连接；第二运算放大器A2的正输入端通过所述充放电电容C接地，该第二运算放大器A2的正输入端还与VDD端口P4电连接；第二运算放大器A2的负输入端以及第二运算放大器A2的输出端均与输出端口P2电连接，电阻R的一端与VSS端口P5电连接，电阻R另一端与输出端口P2电连接。本发明可以快速判断该测试引脚连接的两个二极管是否正常，有效减少检测时间。 | ||
| 搜索关键词： | 运算放大器 电连接 正输入端 峰值检测单元 二极管 负输入端 输出端口 输出端 电阻 检测 充放电电容 测试引脚 待测芯片 检测系统 快速判断 连接端口 输入端口 有效减少 接地 引脚 | ||
【主权项】：
1.一种峰值检测单元，用于检测待测芯片中ESD二极管是否损坏，其特征在于：所述峰值检测单元包括第一运算放大器A1、第二运算放大器A2、充放电电容C、电阻R以及输入端口P1、输出端口P2、引脚连接端口P3、VDD端口P4、VSS端口P5；/n所述第一运算放大器A1的正输入端与输入端口P1电连接，第一运算放大器A1的负输入端与VSS端口P5电连接，第一运算放大器A1的输出端与引脚连接端口P3电连接；第二运算放大器A2的正输入端通过所述充放电电容C接地，同时该第二运算放大器A2的正输入端还与VDD端口P4电连接；第二运算放大器A2的负输入端以及第二运算放大器A2的输出端均与输出端口P2电连接，电阻R的一端与VSS端口P5电连接，电阻R另一端与输出端口P2电连接。/n
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