[发明专利]一种峰值检测单元及检测系统及检测方法

权利要求书

1.一种峰值检测单元，用于检测待测芯片中ESD二极管是否损坏，其特征在于：所述峰值检测单元包括第一运算放大器A1、第二运算放大器A2、充放电电容C、电阻R以及输入端口P1、输出端口P2、引脚连接端口P3、VDD端口P4、VSS端口P5；

所述第一运算放大器A1的正输入端与输入端口P1电连接，第一运算放大器A1的负输入端与VSS端口P5电连接，第一运算放大器A1的输出端与引脚连接端口P3电连接；第二运算放大器A2的正输入端通过所述充放电电容C接地，同时该第二运算放大器A2的正输入端还与VDD端口P4电连接；第二运算放大器A2的负输入端以及第二运算放大器A2的输出端均与输出端口P2电连接，电阻R的一端与VSS端口P5电连接，电阻R另一端与输出端口P2电连接。

2.根据权利要求1所述的峰值检测单元，其特征在于：所述VDD端口P4用于与待测芯片的VDD引脚电连接，所述VSS端口P5用于与待测芯片的VSS引脚电连接，所述引脚连接端口P3用于与待测芯片的待测引脚电连接，所述输入端口P1用于接外部信号发生器，由外部信号发生器通过输入端口P1输入正弦电压，所述输出端口P2用于接判断单元，由判断单元判断输出波形是否正常。

3.根据权利要求1所述的峰值检测单元，其特征在于：所述的峰值检测单元的第一运算放大器A1、第二运算放大器A2、充放电电容C、电阻R均为可更换模块。

4.一种利用权利要求1-3任一项所述的峰值检测单元检测待测芯片中ESD二极管是否损坏的检测系统,其特征在于，包括：主控制模块(201)与测试板模块(202)；

所述主控制模块(201)包含：数据处理单元(2010)、MCU控制器(2011)、判断单元(2012)和开关控制单元(2013)，所述测试板模块(202)包含峰值检测单元(2020)、继电器单元(2021)、引脚接入设备(2022)；

其中，数据处理单元(2010)接收从外部的操作单元输出的用户设置数据，MCU控制器(2011)读取数据处理单元(2010)中的用户设置数据，MCU控制器(2011)根据用户设置数据发送信号发生命令到外部信号发生器(203)，MCU控制器(2011)根据用户设置数据发送开关信号到开关控制单元(2013)，外部信号发生器(203)根据信号发生命令产生正弦电压信号作为峰值检测单元的输入信号，而开关控制单元(2013)根据开关信号控制继电器单元(2021)中相应的继电器开关吸合导通，使得峰值检测单元的相应端口与待测芯片的相应引脚电连接；所述判断单元(2012)对峰值检测单元(2020)的输出波形进行判断并将判断结果反馈到MCU控制器。

5.一种利用权利要求1-3任一项所述的峰值检测单元检测待测芯片中ESD二极管是否损坏的检测方法，

所述待测芯片具有VDD引脚、VSS引脚、至少一个待测引脚，所述待测引脚连接ESD保护电路，所述ESD保护电路包括二极管D1、二极管D2,二极管D1的正极接VSS引脚，二极管D2的负极接VDD引脚,二极管D1的负极以及二极管D2的正极接待测引脚；

所述方法为：

选择待测引脚，峰值检测单元VDD端口P4与待测芯片的VDD引脚连通，所述VSS端口P5与待测芯片的VSS引脚连通，所述引脚连接端口P3与待测芯片的待测引脚连通，所述输入端口P1接外部信号发生器，由外部信号发生器通过输入端口P1输入峰值大于二极管D1、二极管D2导通电压的正弦电压，所述输出端口P2接判断单元，由判断单元判断输出波形是否正常；

判断输出端口P2的输出电压是否为峰值电压，若是峰值电压，则进一步判断输出端口P2的输出电压是否为稳定的峰值电压；

若输出端口P2的输出电压不是峰值电压，则表示该待测引脚连接的二极管D2损坏；

若输出端口P2的输出电压是稳定的峰值电压，则表示该测试引脚连接的二极管D1、二极管D2正常；

若输出端口P2的输出电压不是稳定的峰值电压，则表示该待测引脚连接的二极管D1损坏。