[发明专利]一种峰值检测单元及检测系统及检测方法

说明书

本发明涉及一种峰值检测单元及检测系统及检测方法，用于检测待测芯片中ESD二极管是否损坏。峰值检测单元包括的第一运算放大器A1的正输入端与输入端口P1电连接，第一运算放大器A1的负输入端与VSS端口P5电连接，第一运算放大器A1的输出端与引脚连接端口P3电连接；第二运算放大器A2的正输入端通过所述充放电电容C接地，该第二运算放大器A2的正输入端还与VDD端口P4电连接；第二运算放大器A2的负输入端以及第二运算放大器A2的输出端均与输出端口P2电连接，电阻R的一端与VSS端口P5电连接，电阻R另一端与输出端口P2电连接。本发明可以快速判断该测试引脚连接的两个二极管是否正常，有效减少检测时间。

技术领域

本发明涉及静电放电测试技术领域，尤其是一种峰值检测单元及检测系统及检测方法。

背景技术

所谓的静电放电(Electro-Static Discharge，ESD)是指具有不同静电位的物体互相靠近或直接接触引起的电荷转移。在芯片的使用的过程中，不可避免的会产生静电，例如，手持、或与设备摩擦。在这一过程中能引起静电放电，会产生上千伏的瞬时电压，造成静电击伤，破坏内部电路，使得芯片损坏。

常见的静电放电模式有，人体放电模式(HBM,Human Body Model),机器放电模式(MM,Machine Model)。为了避免静电击伤，在芯片的引脚位置，会加上ESD保护电路，如图1所示，其是以两个ESD二极管(ESD Diode)相互连接组成。目前，在对ESD二极管进行测试其是否损坏时，由于有的待测芯片的引脚太多，导致测试花费周期较长，并且由于同一引脚包含两个ESD二极管，需要进行两次测试操作，更加加大了时间成本。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：提供一种峰值检测单元及检测系统及检测方法，用于检测待测芯片中ESD二极管是否损坏，且检测方便快速，有效减少检测时间。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种峰值检测单元，用于检测待测芯片中ESD二极管是否损坏，特别的，所述峰值检测单元包括第一运算放大器A1、第二运算放大器A2、充放电电容C、电阻R以及输入端口P1、输出端口P2、引脚连接端口P3、VDD端口P4、VSS端口P5。

所述第一运算放大器A1的正输入端与输入端口P1电连接，第一运算放大器A1的负输入端与VSS端口P5电连接，第一运算放大器A1的输出端与引脚连接端口P3电连接；第二运算放大器A2的正输入端通过所述充放电电容C接地，同时该第二运算放大器A2的正输入端还与VDD端口P4电连接；第二运算放大器A2的负输入端以及第二运算放大器A2的输出端均与输出端口P2电连接，电阻R的一端与VSS端口P5电连接，电阻R另一端与输出端口P2电连接。

所述VDD端口P4用于与待测芯片的VDD引脚电连接，所述VSS端口P5用于与待测芯片的VSS引脚电连接，所述引脚连接端口P3用于与待测芯片的待测引脚电连接，所述输入端口P1用于接外部信号发生器，由外部信号发生器通过输入端口P1输入正弦电压，所述输出端口P2用于接判断单元，由判断单元判断输出波形是否正常。

优选的，所述的峰值检测单元的第一运算放大器A1、第二运算放大器A2、充放电电容C、电阻R均为可更换模块。

一种利用上述的峰值检测单元检测待测芯片中ESD二极管是否损坏的检测系统,包括：主控制模块与测试板模块。

所述主控制模块包含：数据处理单元、MCU控制器、判断单元和开关控制单元，所述测试板模块包含峰值检测单元、继电器单元、引脚接入设备；所述引脚接入设备用于接入待测芯片的各引脚。