[发明专利]一种紫外二阶非线性光学测试装置及测试方法在审
| 申请号： | 201911087071.9 | 申请日： | 2019-11-08 |
| 公开（公告）号： | CN110940635A | 公开（公告）日： | 2020-03-31 |
| 发明（设计）人： | 李丙轩;徐翔;魏勇;张戈 | 申请（专利权）人： | 中国科学院福建物质结构研究所 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17 |
| 代理公司： | 北京元周律知识产权代理有限公司 11540 | 代理人： | 校丽丽 |
| 地址： | 350002 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种紫外二阶非线性光学测试装置及其测试方法，属于光谱仪器技术领域，能够解决现有的光学测试装置不能对样品在紫外波段的非线性光学性能进行测试的问题。所述装置通过激光单元向待测样品发射第一激光，利用待测样品采集单元接收第一激光透过待测样品后产生的倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号，其中第一激光的倍频光为紫外激光；检测单元接收待测样品的倍频电信号，并对其进行检测，得到待测样品的光学定性信息。本发明装置通过测试激光透过待测样品后是否产生倍频激光，进而判断待测样品在紫外波段是否具有非线性光学性能。本发明的装置简单，测量成本低，测量效率高，方便快捷。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 紫外 非线性 光学 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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