[发明专利]一种紫外二阶非线性光学测试装置及测试方法

说明书

本发明公开了一种紫外二阶非线性光学测试装置及其测试方法，属于光谱仪器技术领域，能够解决现有的光学测试装置不能对样品在紫外波段的非线性光学性能进行测试的问题。所述装置通过激光单元向待测样品发射第一激光，利用待测样品采集单元接收第一激光透过待测样品后产生的倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号，其中第一激光的倍频光为紫外激光；检测单元接收待测样品的倍频电信号，并对其进行检测，得到待测样品的光学定性信息。本发明装置通过测试激光透过待测样品后是否产生倍频激光，进而判断待测样品在紫外波段是否具有非线性光学性能。本发明的装置简单，测量成本低，测量效率高，方便快捷。

技术领域

本发明涉及光谱仪器技术领域，尤其是涉及一种紫外二阶非线性光学测试装置及测试方法。

背景技术

非线性光学效应，是一种重要的非线性光学效应，具有非线性光学效应的材料能够对不同波长的激光进行变频得到新波长激光。由于非线性光学技术能够获得特殊用途的新波长激光，从而扩展激光器的可调谐范围，因此，该技术在光通讯、激光雷达、卫星测距、激光化学、激光医学等领域有着广泛的应用。

研究及寻找新的非线性光学材料已成为目前非线性光学领域的研究热点。通过测试待测材料的倍频性能可以判断其非线性光学性能，但是，现有测量非线性光学效应的装置都是在红外波段和可见光波段进行测量，而不能对样品在紫外波段的非线性光学性能进行测试。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种紫外二阶非线性光学测试装置及测量方法，能够解决现有的光学测试装置不能对样品在紫外波段的非线性光学性能进行测试的问题。

为实现上述目的，本发明提供了如下技术方案：

一种紫外二阶非线性光学测试装置，所述光学测试装置包括：

激光单元，用于向待测样品发射第一激光；

待测样品采集单元，用于接收所述第一激光透过待测样品后产生的第一激光的倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号，所述第一激光的倍频光为紫外激光；

检测单元，用于接收所述待测样品的倍频电信号，并对其进行检测，得到待测样品的光学定性信息。

作为本发明再进一步的方案：所述光学测试装置还包括分光镜和已知样品采集单元；

所述分光镜设置在所述激光单元的激光出射口，所述分光镜将所述激光单元出射的第一激光分为两路激光，记为第一路激光和第二路激光；

所述第一路激光透过所述待测样品后产生待测样品的第一激光的倍频光，所述待测样品采集单元采集所述待测样品倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号传输给所述检测单元；

所述第二路激光透过所述已知样品后产生已知样品的第一激光的倍频光，所述已知样品采集单元采集所述已知样品倍频光，并将其转化为已知样品的倍频电信号传输给所述检测单元；

相应的，所述检测单元用于对所述待测样品倍频电信号和所述已知样品的倍频电信号进行检测，得到待测样品的光学定量数据。

作为本发明再进一步的方案：所述光学测试装置还包括：

第一滤光片，设置在所述第一激光与待测样品、和/或第一激光与已知样品之间的光路上，所述第一滤光片镀有对所述第一激光波段高透，而对其他波段高反的介质膜。

作为本发明再进一步的方案：所述光学测试装置还包括：

第二滤光片，设置在所述待测样品与所述待测样品采集单元、和/或已知样品与所述已知样品采集单元之间的光路上，所述第二滤光片镀有对所述第一激光的倍频光波段高透，而对其他波段高反的介质膜。

作为本发明再进一步的方案：所述光学测试装置还包括：