[发明专利]一种紫外二阶非线性光学测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种紫外二阶非线性光学测试装置，其特征在于，所述光学测试装置包括：

激光单元，用于向待测样品发射第一激光；

待测样品采集单元，用于接收所述第一激光透过待测样品后产生的第一激光的倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号，所述第一激光的倍频光为紫外激光；

检测单元，用于接收所述待测样品的倍频电信号，并对其进行检测，得到待测样品的光学定性信息。

2.根据权利要求1所述的紫外二阶非线性光学测试装置，其特征在于，所述光学测试装置还包括分光镜和已知样品采集单元；

所述分光镜设置在所述激光单元的激光出射口，所述分光镜将所述激光单元出射的第一激光分为两路激光，记为第一路激光和第二路激光；

所述第一路激光透过所述待测样品后产生待测样品的第一激光的倍频光，所述待测样品采集单元采集所述待测样品倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号传输给所述检测单元；

所述第二路激光透过所述已知样品后产生已知样品的第一激光的倍频光，所述已知样品采集单元采集所述已知样品倍频光，并将其转化为已知样品的倍频电信号传输给所述检测单元；

相应的，所述检测单元用于对所述待测样品倍频电信号和所述已知样品的倍频电信号进行检测，得到待测样品的光学定量数据。

3.根据权利要求1或2所述的紫外二阶非线性光学测试装置，其特征在于，所述光学测试装置还包括：

第一滤光片，设置在所述第一激光与待测样品、和/或第一激光与已知样品之间的光路上，所述第一滤光片镀有对所述第一激光波段高透，而对其他波段高反的介质膜。

4.根据权利要求1或2所述的紫外二阶非线性光学测试装置，其特征在于，所述光学测试装置还包括：

第二滤光片，设置在所述待测样品与所述待测样品采集单元、和/或已知样品与所述已知样品采集单元之间的光路上，所述第二滤光片镀有对所述第一激光的倍频光波段高透，而对其他波段高反的介质膜。

5.根据权利要求1或2所述的紫外二阶非线性光学测试装置，其特征在于，所述光学测试装置还包括：

衰减片，设置在所述待测样品与所述待测样品采集单元、和/或已知样品与所述已知样品采集单元之间的光路上，用于对所述第一激光的倍频光进行衰减。

6.一种紫外二阶非线性光学测试方法，其特征在于，所述方法包括：

将第一激光通过待测样品；

采集第一激光透过待测样品后产生的第一激光的倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号，所述第一激光的倍频光为紫外激光；

对待测样品的倍频电信号进行检测，得到待测样品的光学定性信息。

7.根据权利要求6所述的紫外二阶非线性光学测试方法，其特征在于，所述第一激光通过待测样品之前，所述方法还包括：

将所述第一激光分为两路激光，记为第一路激光第二路激光；

将所述第一路激光透过待测样品后产生待测样品的第一激光的倍频光，采集待测样品的倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号；

将所述第二路激光透过已知样品后产生已知样品的第一激光的倍频光，采集已知样品的倍频光，并将其转化为已知样品的倍频电信号；

对所述待测样品的倍频电信号和所述已知样品的倍频电信号进行检测，得到待测样品的光学定量数据。

8.根据权利要求6或7所述的紫外二阶非线性光学测试方法，其特征在于，所述第一激光通过待测样品和/或已知样品之前，所述方法还包括：

对所述第一激光进行过滤，除去波长为第一激光外的其他光波。

9.根据权利要求6或7所述的紫外二阶非线性光学测试方法，其特征在于，对所述待测样品和/或已知样品产生的倍频光进行采集之前，所述方法还包括：

对所述倍频光进行过滤，除去波长为第一激光的倍频光外的其他光波。

10.根据权利要求6或7所述的紫外二阶非线性光学测试方法，其特征在于，对所述待测样品和/或已知样品的倍频光进行采集之前，所述方法还包括：

对所述待测样品和/或已知样品产生的倍频光进行衰减。