[发明专利]PTC元件全自动电性能综合检验设备在审
| 申请号： | 201911029628.3 | 申请日： | 2019-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN110632432A | 公开（公告）日： | 2019-12-31 |
| 发明（设计）人： | 徐伟 | 申请（专利权）人： | 上海帕克热敏陶瓷有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01K15/00 |
| 代理公司： | 31315 上海骁象知识产权代理有限公司 | 代理人： | 赵峰 |
| 地址： | 201821*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种PTC元件全自动电性能综合检验设备，包括操作台及由位于操作台四周的挡板及自动升降门形成的相对封闭的箱体，操作台设于箱体内，操作台上设有可一次夹持多片PTC元件的PTC元件治具，PTC元件治具由箱体内位于操作台下方的数据检测及处理器控制，在PTC元件治具上方横梁上设有由数据检测及处理器控制的温度检测模块。针对现有PTC元件性能测试存在的问题，本发明可以用一台机器实现几乎所有电性能的测试，并且可以自动化完成，并按标准判断产品是否合格，并输出标准的检测报告。 | ||
| 搜索关键词： | 操作台 治具 处理器控制 数据检测 电性能 温度检测模块 自动升降门 挡板 标准判断 机器实现 检测报告 检验设备 上方横梁 输出标准 相对封闭 性能测试 一次夹持 多片 自动化 测试 | ||
【主权项】：
1.一种PTC元件全自动电性能综合检验设备，包括操作台及由位于操作台四周的挡板及自动升降门形成的相对封闭的箱体，操作台设于箱体内，其特征在于：操作台上设有可一次夹持N片PTC元件的PTC元件治具，N为大于或者等于1的整数，PTC元件治具由箱体内设于操作台下方的数据检测及处理器控制，在PTC元件治具上方设有由数据检测及处理器控制的温度检测模块，温度检测模块将检测到的PTC元件治具上夹持的PTC元件的表面温度回传给数据检测及处理器，其中：/nPTC元件治具包括：PTC元件卡槽，用于放入M片PTC元件，M为小于或者等于N的整数，M片PTC元件在PTC元件卡槽内排列成一排；/n卡槽升降机构，在数据检测及处理器的控制下用于带动PTC元件卡槽上升、下降，PTC元件卡槽上升到位后，将PTC元件放入PTC元件卡槽内，PTC元件卡槽下降到位后，PTC元件与PTC元件卡槽相分离；/n模组自动滑台，通过滑台模组设于操作台上，由滑台模组驱动模组自动滑台移动至设定位置，卡槽升降机构通过连接件固定在模组自动滑台的预设位置，从而将放入PTC元件卡槽的PTC元件导入PTC元件治具的固定位置；/n位于PTC元件卡槽前后两侧的探针顶出机构，探针顶出机构上设有探针，放入PTC元件卡槽内的每片PTC元件的前、后两侧分别对应两根探针，位于同侧的两根探针上、下布置，探针顶出机构在数据检测及处理器的控制下将探针顶出后，由四根探针从前、后两侧将位置相对应的PTC元件夹紧，PTC元件被夹紧后，卡槽升降机构带动PTC元件卡槽下降至与PTC元件相分离；测试用电压、电流通过探针施加在相对应的PTC元件上，且数据检测及处理器通过探针获得相应的检测数据。/n
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