[发明专利]PTC元件全自动电性能综合检验设备

权利要求书

1.一种PTC元件全自动电性能综合检验设备，包括操作台及由位于操作台四周的挡板及自动升降门形成的相对封闭的箱体，操作台设于箱体内，其特征在于：操作台上设有可一次夹持N片PTC元件的PTC元件治具，N为大于或者等于1的整数，PTC元件治具由箱体内设于操作台下方的数据检测及处理器控制，在PTC元件治具上方设有由数据检测及处理器控制的温度检测模块，温度检测模块将检测到的PTC元件治具上夹持的PTC元件的表面温度回传给数据检测及处理器，其中：

PTC元件治具包括：PTC元件卡槽，用于放入M片PTC元件，M为小于或者等于N的整数，M片PTC元件在PTC元件卡槽内排列成一排；

卡槽升降机构，在数据检测及处理器的控制下用于带动PTC元件卡槽上升、下降，PTC元件卡槽上升到位后，将PTC元件放入PTC元件卡槽内，PTC元件卡槽下降到位后，PTC元件与PTC元件卡槽相分离；

模组自动滑台，通过滑台模组设于操作台上，由滑台模组驱动模组自动滑台移动至设定位置，卡槽升降机构通过连接件固定在模组自动滑台的预设位置，从而将放入PTC元件卡槽的PTC元件导入PTC元件治具的固定位置；

位于PTC元件卡槽前后两侧的探针顶出机构，探针顶出机构上设有探针，放入PTC元件卡槽内的每片PTC元件的前、后两侧分别对应两根探针，位于同侧的两根探针上、下布置，探针顶出机构在数据检测及处理器的控制下将探针顶出后，由四根探针从前、后两侧将位置相对应的PTC元件夹紧，PTC元件被夹紧后，卡槽升降机构带动PTC元件卡槽下降至与PTC元件相分离；测试用电压、电流通过探针施加在相对应的PTC元件上，且数据检测及处理器通过探针获得相应的检测数据。

2.如权利要求1所述的一种PTC元件全自动电性能综合检验设备，其特征在于：位于所述操作台上方的挡板设有带网罩的通孔，所述通孔与散热风机相连通，散热风机通过通孔散去所述箱体内的热量。

3.如权利要求1所述的一种PTC元件全自动电性能综合检验设备，其特征在于：所述温度检测模块包括由所述数据检测及处理器控制的二轴模组及设于二轴模组上的红外线探头，二轴模组在所述数据检测及处理器的控制下带动红外线探头沿X轴、Y轴方向移动后运动至所述PTC元件治具所夹持的PTC元件的上方，再由红外线探头将检测到的PTC元件的表面温度回传给所述数据检测及处理器，X轴与Y轴垂直。

4.如权利要求1所述的一种PTC元件全自动电性能综合检验设备，其特征在于：在所述箱体上设有显示单元，显示单元与所述数据检测及处理器相连，所述数据检测及处理器将接收到的数据分析处理为动态曲线后，发送给显示单元进行显示。

5.如权利要求1所述的一种PTC元件全自动电性能综合检验设备，其特征在于：在所述箱体上设有与所述数据检测及处理器相连的打印接口，打印接口用于外接打印机，通过打印机将所述数据检测及处理器的输出数据打印出来。

6.如权利要求1所述的一种PTC元件全自动电性能综合检验设备，其特征在于：所述卡槽升降机构包括位于所述PTC元件卡槽左右两侧的卡槽升降气缸，卡槽升降气缸由所述数据检测及处理器控制。

7.如权利要求1所述的一种PTC元件全自动电性能综合检验设备，其特征在于：相邻两片所述PTC元件之间间隔大于至少10mm以上。

8.如权利要求1所述的一种PTC元件全自动电性能综合检验设备，其特征在于：探针顶出机构包括设置在PTC元件卡槽侧面的气缸，探针顶出机构的气缸由数据检测及处理器控制。