[发明专利]PTC元件全自动电性能综合检验设备在审
申请号: | 201911029628.3 | 申请日: | 2019-10-28 |
公开(公告)号: | CN110632432A | 公开(公告)日: | 2019-12-31 |
发明(设计)人: | 徐伟 | 申请(专利权)人: | 上海帕克热敏陶瓷有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01K15/00 |
代理公司: | 31315 上海骁象知识产权代理有限公司 | 代理人: | 赵峰 |
地址: | 201821*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 操作台 治具 处理器控制 数据检测 电性能 温度检测模块 自动升降门 挡板 标准判断 机器实现 检测报告 检验设备 上方横梁 输出标准 相对封闭 性能测试 一次夹持 多片 自动化 测试 | ||
一种PTC元件全自动电性能综合检验设备,包括操作台及由位于操作台四周的挡板及自动升降门形成的相对封闭的箱体,操作台设于箱体内,操作台上设有可一次夹持多片PTC元件的PTC元件治具,PTC元件治具由箱体内位于操作台下方的数据检测及处理器控制,在PTC元件治具上方横梁上设有由数据检测及处理器控制的温度检测模块。针对现有PTC元件性能测试存在的问题,本发明可以用一台机器实现几乎所有电性能的测试,并且可以自动化完成,并按标准判断产品是否合格,并输出标准的检测报告。
技术领域
本发明涉及电学领域,尤其涉及PTC元件电性能测试技术,特别是一种PTC元件全自动电性能综合检验设备。
背景技术
PTC元件具有恒温发热特性,无明火、安全可靠、使用简单。作为加热元件,PTC元件在暖风机、空调、新能源汽车加热系统上已经获得大量应用。PTC元件是关键元件,一般应用在高压场合,是一个风险等级很高的产品,所以必须对PTC元件的性能做全面的检测,才能确保产品在生产过程中符合质量要求,在使用过程中不出现功能问题或安全问题。
大多数生产企业,在生产过程中,会对产品的外观进行全检。对冲击电流(或常温电阻)、电极耐流性能、耐电压等关键电性能指标通过自动化设备进行全检,以确保产品的性能可靠性。对于PTC元件的其它电性能,在产品出厂前,品管部会对PTC元件的所有的电性能进行检测,如表面温度、击穿耐压(伏安特性)、升温速度(时间-电流特性)等会进行一定数量的抽检,确保产品质量。
对于专业的生产厂家,有配置各种检测设备。这些检测设备包括常温电阻测试仪、冲击电流测试仪、平衡电流测试仪、耐电压测试仪(含电极耐流能力、击穿耐电压测试)、表面温度测试仪、时间-电流测试仪(检测升温速度)、伏安特性测试仪(检测击穿耐压)等大量设备。这些专业的设备需要花费很大的一次性资金投入,每年还要进行一次校验。对于PTC元件的使用单位、研发机构,不可能配备这些完善的检测设备,无法对PTC元件的性能进行检测。一旦PTC元件出现质量问题,在后期生产过程中发现,那么损失会很大。
同时,生产制造单位需要配备专业的检验员,每天花费大量的时间对PTC元件的电性能进行检测。而且由于各使用单位的设备和测试方法的不统一,标准也不统一,测试数据误差很大(如冲击电流和表面温度),造成很多误判和纠纷。
发明内容
本发明要解决的技术问题是现有技术中PTC元件电性能综合检验难度较大的问题。
为了解决上述技术问题,本发明的技术方案是提供一种PTC元件全自动电性能综合检验设备,包括操作台及由位于操作台四周的挡板及自动升降门形成的相对封闭的箱体,操作台设于箱体内,其特征在于,操作台上设有可一次夹持N片PTC元件的PTC元件治具,N为大于或者等于1的整数,PTC元件治具的动作及PCT元件的检测由箱体内位于操作台下方的数据检测及处理器控制,在PTC元件治具上方横梁上设有由数据检测及处理器控制的温度检测模块,温度检测模块将检测到的PTC元件治具上夹持的PTC元件的表面温度回传给数据检测及处理器,其中:
PTC元件治具包括:PTC元件卡槽,人工将M片PTC元件放入PTC元件卡槽内,M为小于或者等于N的整数,M片PTC元件排列成一排;
卡槽升降机构,在数据检测及处理器的控制下用于带动PTC元件卡槽上升、下降,PTC元件卡槽上升到位后,PTC元件可放入PTC元件卡槽内,PTC元件卡槽下降到位后,PTC元件与PTC元件卡槽相分离;
模组自动滑台,通过滑台模组设于操作台上,由滑台模组驱动模组自动滑台移动至设定位置,卡槽升降机构通过连接件固定在模组自动滑台的预设位置,从而将放入PTC元件卡槽的PTC元件导入PTC元件治具的固定位置;
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