[发明专利]阵列基板的制造方法及阵列基板在审
申请号: | 201911013096.4 | 申请日: | 2019-10-23 |
公开(公告)号: | CN110729250A | 公开(公告)日: | 2020-01-24 |
发明(设计)人: | 刘翔;孙学军;李广圣;马群 | 申请(专利权)人: | 成都中电熊猫显示科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L21/44;H01L21/34;H01L29/423;H01L29/786;H01L27/12 |
代理公司: | 11205 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李小波;刘芳 |
地址: | 610200 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种阵列基板的制造方法及阵列基板,所述制造方法包括:在衬底基板上沉积栅极金属层,并通过第一次光刻,以形成栅极;依次沉积栅极绝缘层、金属氧化物半导体层、金属铝层和金属铜层,进行第二次光刻,以在金属氧化物半导体层形成有源岛的同时,使金属铝层和金属铜层形成源极和漏极,再对源极和漏极之间的沟道区域进行氧化处理,使沟道区域内的铝转化为氧化铝;沉积金属氧化物保护层,并进行第三次光刻,以在金属氧化物保护层上形成导电过孔;沉积透明导电层,并进行第四次光刻,以形成像素电极,并连通像素电极和导电过孔。本发明提供一种阵列基板及其制造方法,仅需四道光罩制程顺序即可实现阵列基板的制作,工艺简单,制作成本低。 | ||
搜索关键词: | 阵列基板 次光 金属氧化物半导体层 导电过孔 沟道区域 金属铝层 金属铜层 像素电极 漏极 源极 金属氧化物保护层 制造 沉积金属氧化物 沉积栅极绝缘层 沉积栅极金属 透明导电层 衬底基板 氧化处理 保护层 氧化铝 源岛 制程 沉积 制作 连通 转化 | ||
【主权项】:
1.一种阵列基板的制造方法,其特征在于,包括:/n在衬底基板上沉积栅极金属层,并通过第一次光刻,以使所述栅极金属层形成栅极;/n依次沉积栅极绝缘层、金属氧化物半导体层、金属铝层和金属铜层,进行第二次光刻,以在所述金属氧化物半导体层形成有源岛的同时,使所述金属铝层和金属铜层形成源极和漏极,再对所述源极和漏极之间的沟道区域进行氧化处理,使所述沟道区域内的金属铝转化为氧化铝;/n沉积金属氧化物保护层,并进行第三次光刻,以在位于所述漏极上方的所述金属氧化物保护层上形成导电过孔;/n沉积透明导电层,并进行第四次光刻,以使所述透明导电层形成像素电极,并通过所述导电过孔连通所述像素电极和所述漏极。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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