[发明专利]一种智能门锁主板PCBA老化测试方法在审
| 申请号： | 201911002429.3 | 申请日： | 2019-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN110726926A | 公开（公告）日： | 2020-01-24 |
| 发明（设计）人： | 苏祺云 | 申请（专利权）人： | 深圳市凯迪仕智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 44589 深圳市中融创智专利代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 叶垚平;李立 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区高*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种智能门锁主板PCBA老化测试方法，包括PC上位机、主控板、若干集中器、若干采集板，所述PC上位机通过RS232有线通讯方式与主控板连接，所述主控板通过433M无线通讯方式分别与各集中器连接，一所述集中器通过RS485有线通讯方式分别与若干采集板连接，一所述采集板与一门锁主板连接。本发明通过将老化测试系统设置为三级，第一级为1PC上位机带1主控板，第二级为1主控板带16个集中器，第三级为1个集中器带200个采集板，每个采集板对应一个门锁主板，通过对门锁主板进行不断的上电冲击，启动电机达到最大负荷的方式进行老化，一次性测试若干门锁主板，测试效率高，低成本，可实时监控测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 采集板 集中器 主板 主控板 门锁 通讯方式 老化测试系统 无线通讯方式 一次性测试 测试效率 老化测试 启动电机 上电冲击 实时监控 智能门锁 最大负荷 低成本 第三级 第一级 上位机 板带 主控 老化 | ||
【主权项】：
1.一种智能门锁主板PCBA老化测试方法，其特征在于：包括PC上位机、主控板、若干集中器、若干采集板，所述PC上位机通过RS232有线通讯方式与主控板连接，所述主控板通过433M无线通讯方式分别与各集中器连接，一所述集中器通过RS485有线通讯方式分别与若干采集板连接，一所述采集板与一门锁主板连接；/n其中，所述采集板设置有采集电路，所述采集电路包括MCU、放大器、运算放大器、比较器、档位采样电阻、mA档采样电阻、uA档采样电阻、继电器；所述MCU第一端与集中器连接，所述MCU第二端与门锁主板连接，所述MCU第三端通过ADC与放大器第一端连接，所述放大器第二端与mA档采样电阻连接，所述放大器第三端与uA档采样电阻连接，所述uA档采样电阻与继电器连接，所述继电器与门锁主板连接，所述uA档采样电阻通过mA档采样电阻与档位采样电阻连接，所述档位采样电阻通过运算放大器与比较器连接，所述比较器与继电器连接，所述档位采样电阻与电源连接。/n
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