[发明专利]射频芯片Loadpull测试方法及系统有效
| 申请号： | 201910982175.X | 申请日： | 2019-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN110618374B | 公开（公告）日： | 2021-11-09 |
| 发明（设计）人： | 何其波;薛俊;罗兴华;张晓涵 | 申请（专利权）人： | 普联技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 李木燕 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区深南路科技*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请适用于芯片测试技术领域，提供了一种射频芯片Loadpull测试方法及系统，射频芯片Loadpull测试方法包括：调整待测射频芯片的负载阻抗；对待测射频芯片进行功率校准，确认目标功率；控制待测射频芯片以目标功率发射被测速率模式的射频信号；测试待测射频芯片在被测速率模式下的射频性能和功耗信息。解决现有技术中不能对无法通过外部信号源提供输入信号的器件进行等输出功率下的Loadpull测试的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 芯片 loadpull 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种射频芯片Loadpull测试方法，其特征在于，包括：/n调整待测射频芯片的负载阻抗；/n对所述待测射频芯片进行功率校准，确认目标功率；/n控制所述待测射频芯片以所述目标功率发射被测速率模式的射频信号；/n测试所述待测射频芯片在所述被测速率模式下的射频性能和功耗信息。/n
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