[发明专利]射频芯片Loadpull测试方法及系统

权利要求书

1.一种射频芯片Loadpull测试方法，其特征在于，包括：

调整待测射频芯片的负载阻抗；

对所述待测射频芯片进行功率校准，确认目标功率；

控制所述待测射频芯片以所述目标功率发射被测速率模式的射频信号；

测试所述待测射频芯片在所述被测速率模式下的射频性能和功耗信息；

所述对所述待测射频芯片进行功率校准，确认目标功率具体为：

测试所述待测射频芯片在不同增益值下对应的输出功率；

建立所述增益值和所述输出功率的关系式；

根据目标增益值和所述关系式确定所述目标功率。

2.根据权利要求1所述的射频芯片Loadpull测试方法，其特征在于，所述调整待测射频芯片的负载阻抗包括反射幅度调整和相位调整。

3.根据权利要求1所述的射频芯片Loadpull测试方法，其特征在于，所述被测速率模式包括多个速率模式。

4.根据权利要求1所述的射频芯片Loadpull测试方法，其特征在于，所述射频性能包括频谱和误差向量幅度。

5.一种基于权利要求1至4任一项所述射频芯片Loadpull测试方法的射频芯片Loadpull测试系统，其特征在于，包括：

直流源，用于为系统供电和测试系统的功耗信息；

测试板，包括射频控制单元、所述待测射频芯片和测试夹具，所述射频控制单元分别连接所述直流源和所述待测射频芯片，用于控制所述待测射频芯片，所述测试夹具连接所述待测射频芯片的射频引脚；

负载调谐器，连接所述测试夹具，用于调节负载阻抗；

综测仪，连接所述负载调谐器，用于测试所述待测射频芯片的射频性能；

上位机，分别连接所述射频控制单元和所述综测仪，用于控制所述射频控制单元和所述综测仪。

6.根据权利要求5所述的射频芯片Loadpull测试系统，其特征在于，所述负载调谐器通过Cable线和衰减头与所述综测仪连接。

7.根据权利要求5所述的射频芯片Loadpull测试系统，其特征在于，所述测试夹具包括PCB走线和射频连接器，所述PCB走线的一端连接所述待测射频芯片的射频引脚，所述PCB走线的另一端连接所述射频连接器，所述射频连接器连接所述负载调谐器。

8.根据权利要求5所述的射频芯片Loadpull测试系统，其特征在于，所述测试夹具的个数和所述待测射频芯片上射频引脚的个数相等。

9.根据权利要求5所述的射频芯片Loadpull测试系统，其特征在于，所述上位机通过信号交换通信设备分别与所述射频控制单元和所述综测仪连接。