[发明专利]射频芯片Loadpull测试方法及系统有效
申请号: | 201910982175.X | 申请日: | 2019-10-16 |
公开(公告)号: | CN110618374B | 公开(公告)日: | 2021-11-09 |
发明(设计)人: | 何其波;薛俊;罗兴华;张晓涵 | 申请(专利权)人: | 普联技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人: | 李木燕 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区深南路科技*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射频 芯片 loadpull 测试 方法 系统 | ||
本申请适用于芯片测试技术领域,提供了一种射频芯片Loadpull测试方法及系统,射频芯片Loadpull测试方法包括:调整待测射频芯片的负载阻抗;对待测射频芯片进行功率校准,确认目标功率;控制待测射频芯片以目标功率发射被测速率模式的射频信号;测试待测射频芯片在被测速率模式下的射频性能和功耗信息。解决现有技术中不能对无法通过外部信号源提供输入信号的器件进行等输出功率下的Loadpull测试的问题。
技术领域
本发明属于芯片测试技术领域,尤其涉及一种射频芯片Loadpull测试方法及系统。
背景技术
目前已有的射频器件Loadpull(负载牵引)测试系统通过负载调谐器调节负载阻抗,通过信号源调节输出信号的功率强度,以实现射频芯片Loadpull测试。
此种测试系统对于需要外部信号源提供输入信号的双端口器件是有效的,比如射频PA(Power Amplifier,功率放大器)的Loadpull测试。但是对于无法通过外部信号源提供输入信号的器件,例如包含了基带的射频Transceiver芯片则无法通过调节信号源的输入信号来控制输出功率,该系统无法对该类产品进行等输出功率下的Loadpull测试。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例提供了一种射频芯片Loadpull测试方法及系统,以解决现有技术中不能对无法通过外部信号源提供输入信号的器件进行等输出功率下的Loadpull测试的问题。
为解决上述技术问题,本发明的第一实施例提供了一种射频芯片Loadpull测试方法,包括:
调整待测射频芯片的负载阻抗;
对所述待测射频芯片进行功率校准,确认目标功率;
控制所述待测射频芯片以所述目标功率发射被测速率模式的射频信号;
测试所述待测射频芯片在所述被测速率模式下的射频性能和功耗信息。
在其中一个实施例中,所述调整待测射频芯片的负载阻抗包括反射幅度调整和相位调整。
在其中一个实施例中,所述对所述待测射频芯片进行功率校准,确认目标功率具体为:
测试所述待测射频芯片在不同增益值下对应的输出功率;
建立所述增益值和所述输出功率的关系式;
根据所述目标功率和所述关系式确定目标增益值。
在其中一个实施例中,所述被测速率模式包括多个速率模式。
在其中一个实施例中,所述射频性能包括频谱和误差向量幅度。
本发明的第二实施例提供了一种射频芯片Loadpull测试系统,包括:
直流源,用于为系统供电和测试系统的功耗信息;
测试板,包括射频控制单元、所述待测射频芯片和测试夹具,所述射频控制单元分别连接所述直流源和所述待测射频芯片,用于控制所述待测射频芯片,所述测试夹具连接所述待测射频芯片的射频引脚;
负载调谐器,连接所述测试夹具,用于调节负载阻抗;
综测仪,连接所述负载调谐器,用于测试所述待测射频芯片的射频性能;
上位机,分别连接所述射频控制单元和所述综测仪,用于控制所述射频控制单元和所述综测仪。
在其中一个实施例中,所述负载调谐器通过Cable线和衰减头与所述综测仪连接。
在其中一个实施例中,所述测试夹具包括PCB走线和射频连接器,所述PCB走线的一端连接所述待测射频芯片的射频引脚,所述PCB走线的另一端连接所述射频连接器,所述射频连接器连接所述负载调谐器。
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