[发明专利]辐射扫描检查设备在审

专利信息
申请号: 201910981849.4 申请日: 2019-10-16
公开(公告)号: CN112666188A 公开(公告)日: 2021-04-16
发明(设计)人: 宋全伟;樊旭平;孙尚民;郭以伟;史俊平;何远;孟辉;宗春光;胡煜;倪秀琳 申请(专利权)人: 同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01N23/203;G01V5/00;B60B33/00
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 艾春慧
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开一种辐射扫描检查设备,包括:辐射检查装置,包括刚性的门型构架,所述门型构架包括横向部和分别连接于所述横向部左右两端的第一纵向部和第二纵向部;行走装置,包括多个轮组件,所述多个轮组件分别设于所述第一纵向部底部和所述第二纵向部底部;纠偏装置,用于使所述行走装置保持直线行走。本发明的辐射扫描检查设备可以稳定直线行走,提高对被检物的辐射扫描检查成像的质量和效率。
搜索关键词: 辐射 扫描 检查 设备
【主权项】:
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