[发明专利]芯片可靠性测试用老化设备有效
| 申请号： | 201910937449.3 | 申请日： | 2019-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN112578149B | 公开（公告）日： | 2022-12-27 |
| 发明（设计）人： | 罗跃浩;黄建军;胡海洋 | 申请（专利权）人： | 苏州联讯仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 王健 |
| 地址： | 215011 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种芯片可靠性测试用老化设备，包括安装在箱体中的芯片夹具、测试板、驱动电路板和电池，所述箱体中安装有一隔板，此隔板将箱体内的空间分隔成一测试腔和驱动腔，所述测试板的空腔中安装有一与夹具槽对应的散热板，所述加热板置于散热板上；所述驱动电路板两侧均安装有一散热片，此散热片与驱动电路板之间垫有一散热软垫，所述驱动电路板、散热软垫和散热片通过一支架安装在箱体底面；位于驱动腔侧的箱体上安装有若干个排风扇，所述箱体上还开有与排风扇对应的进风孔。本发明该老化设备不仅解决了老化测试过程中，热量累积引起测试温度波动，造成测试精度不佳的问题，还解决了测试过程产生的高温影响到电子元器件正常使用的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 可靠性 测试 老化 设备 | ||
【主权项】：
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