[发明专利]主觉式验光装置在审

专利信息
申请号: 201910921800.X 申请日: 2019-09-27
公开(公告)号: CN110960184A 公开(公告)日: 2020-04-07
发明(设计)人: 泷井通浩;平山幸人 申请(专利权)人: 尼德克株式会社
主分类号: A61B3/028 分类号: A61B3/028;A61B3/103;A61B3/032;A61B3/107
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 任天诺;高培培
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供抑制检测单元的影响而能够他觉性地良好测定被检眼的光学特性的主觉式验光装置。具备验光单元,该验光单元具有光学构件,配置在被检眼的眼前,使用光学构件来变更视标光束的光学特性,主觉式验光装置将视标光束经由验光单元向被检眼投影,用于主觉性测定被检眼的光学特性,其中具备测定光学系统,该测定光学系统具有投光光学系统和受光光学系统并他觉性测定被检眼的光学特性,投光光学系统具有射出测定光的测定光源,将从测定光源射出的测定光经由验光单元向被检眼的眼底照射,受光光学系统经由验光单元而利用检测器接受由被检眼的眼底反射的测定光的反射光,主觉式验光装置设定为测定光学系统的光轴相对于验光单元的光学构件的光轴成为轴外。
搜索关键词: 主觉式 验光 装置
【主权项】:
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