[发明专利]主觉式验光装置

说明书

提供抑制检测单元的影响而能够他觉性地良好测定被检眼的光学特性的主觉式验光装置。具备验光单元，该验光单元具有光学构件，配置在被检眼的眼前，使用光学构件来变更视标光束的光学特性，主觉式验光装置将视标光束经由验光单元向被检眼投影，用于主觉性测定被检眼的光学特性，其中具备测定光学系统，该测定光学系统具有投光光学系统和受光光学系统并他觉性测定被检眼的光学特性，投光光学系统具有射出测定光的测定光源，将从测定光源射出的测定光经由验光单元向被检眼的眼底照射，受光光学系统经由验光单元而利用检测器接受由被检眼的眼底反射的测定光的反射光，主觉式验光装置设定为测定光学系统的光轴相对于验光单元的光学构件的光轴成为轴外。

技术领域

本公开涉及用于主觉性地测定被检眼的光学特性的主觉式验光装置。

背景技术

已知有一种主觉式验光装置，使用配置在被检者眼的前方的验光单元，在验光单元的检査窗配置球面透镜或柱面(散光)透镜等光学构件，透过配置的光学构件而向被检眼展示视标，由此主觉性地检査(测定)被检眼的光学特性(参照专利文献1)。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开平5-176893号公报

发明内容

发明要解决的课题

然而，在上述那样的主觉式验光装置中，关于搭载他觉性地测定被检眼的光学特性的测定光学系统的结构进行了研讨的情况下，在经由验光单元照射测定光学系统的测定光时，可知无法他觉性地良好测定被检眼的光学特性。

本公开鉴于上述现有技术，技术课题在于提供抑制检测单元的影响，能够他觉性地良好测定被检眼的光学特性的主觉式验光装置。

用于解决课题的方案

为了解决上述课题，本发明特征在于具备以下的结构。

(1)一种主觉式验光装置，具备验光单元，该验光单元具有光学构件，配置在被检眼的眼前，使用所述光学构件来变更视标光束的光学特性，

所述主觉式验光装置将所述视标光束经由所述验光单元向所述被检眼投影，用于主觉性地测定所述被检眼的光学特性，

其中，

所述主觉式验光装置具备测定光学系统，该测定光学系统具有投光光学系统和受光光学系统，并他觉性地测定所述被检眼的光学特性，所述投光光学系统具有射出测定光的测定光源，将从所述测定光源射出的所述测定光经由所述验光单元向所述被检眼的眼底照射，所述受光光学系统经由所述验光单元而利用检测器接受由所述被检眼的眼底反射的所述测定光的反射光，

所述主觉式验光装置被设定为所述测定光学系统的光轴相对于所述验光单元中的所述光学构件的光轴成为轴外。

(2)在上述(1)项所述的主觉式验光装置中，

通过以所述测定光学系统中的所述投光光学系统的光轴和所述受光光学系统的光轴中的至少一方的光轴相对于所述验光单元中的所述光学构件的光轴成为轴外的方式设定，从而所述主觉式验光装置被设定为所述测定光学系统的光轴相对于所述验光单元中的所述光学构件的光轴成为轴外。

(3)在上述(2)项所述的主觉式验光装置中，

通过以所述投光光学系统中的所述测定光源的光轴相对于所述验光单元中的所述光学构件的光轴成为轴外的方式设定，从而所述主觉式验光装置被设定为所述投光光学系统的光轴相对于所述验光单元中的所述光学构件的光轴成为轴外。

(4)在上述(2)或(3)项所述的主觉式验光装置中，