[发明专利]原子磁强计温度可调稳场测试系统在审
| 申请号： | 201910863587.1 | 申请日： | 2019-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN110646749A | 公开（公告）日： | 2020-01-03 |
| 发明（设计）人： | 秦杰;刘栋苏;郭宇豪 | 申请（专利权）人： | 北京自动化控制设备研究所 |
| 主分类号： | G01R33/00 | 分类号： | G01R33/00;G01R33/032 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100074 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种原子磁强计温度可调稳场测试系统，该原子磁强计温度可调稳场测试系统包括：原子磁强计，用于待测环境的稳场测试；保温装置，原子磁强计位于保温装置内，保温装置用于维持原子磁强计的环境温度恒定；磁屏蔽桶，保温装置位于磁屏蔽桶内，磁屏蔽桶用于屏蔽外界磁场干扰；温度调节组件，温度调节组件位于磁屏蔽桶外部，温度调节组件用于调节原子磁强计的环境温度。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中原子磁强计测试装置的温度不可控导致的不能在高温或低温环境下进行稳场测试的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 原子磁强计 保温装置 磁屏蔽桶 稳场 温度调节组件 测试系统 温度可调 测试 测试装置 低温环境 外界磁场 温度恒定 屏蔽 外部 应用 | ||
【主权项】：
1.一种原子磁强计温度可调稳场测试系统，其特征在于，所述原子磁强计温度可调稳场测试系统包括：/n原子磁强计(10)，用于待测环境的稳场测试；/n保温装置(20)，所述原子磁强计(10)位于所述保温装置(20)内，所述保温装置(20)用于维持所述原子磁强计(10)的环境温度恒定；/n磁屏蔽桶(30)，所述保温装置(20)位于所述磁屏蔽桶(30)内，所述磁屏蔽桶(30)用于屏蔽外界磁场干扰；/n温度调节组件(40)，所述温度调节组件(40)位于所述磁屏蔽桶(30)外部，所述温度调节组件(40)用于调节所述原子磁强计(10)的环境温度。/n
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