[发明专利]原子磁强计温度可调稳场测试系统

说明书

本发明提供了一种原子磁强计温度可调稳场测试系统，该原子磁强计温度可调稳场测试系统包括：原子磁强计，用于待测环境的稳场测试；保温装置，原子磁强计位于保温装置内，保温装置用于维持原子磁强计的环境温度恒定；磁屏蔽桶，保温装置位于磁屏蔽桶内，磁屏蔽桶用于屏蔽外界磁场干扰；温度调节组件，温度调节组件位于磁屏蔽桶外部，温度调节组件用于调节原子磁强计的环境温度。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中原子磁强计测试装置的温度不可控导致的不能在高温或低温环境下进行稳场测试的技术问题。

技术领域

本发明涉及磁强计测试技术领域，尤其涉及一种原子磁强计温度可调稳场测试系统。

背景技术

在磁强计测试领域，原子磁强计的性能测试需要在一个高精度高稳定度的磁场中进行，目前大部分稳场装置仅能够实现在不可控的常温下的磁强计测试。随着工程化应用的多样化，常常需要在高温或低温环境下进行稳场测试。而现有技术中的原子磁强计测试装置的温度不可控，无法实现在高温或低温环境下的稳场测试。

发明内容

本发明提供了一种原子磁强计温度可调稳场测试系统，能够解决现有技术中原子磁强计测试装置的温度不可控导致的不能在高温或低温环境下进行稳场测试的技术问题。

本发明提供了一种原子磁强计温度可调稳场测试系统，该原子磁强计温度可调稳场测试系统包括：原子磁强计，用于待测环境的稳场测试；保温装置，原子磁强计位于保温装置内，保温装置用于维持原子磁强计的环境温度恒定；磁屏蔽桶，保温装置位于磁屏蔽桶内，磁屏蔽桶用于屏蔽外界磁场干扰；温度调节组件，温度调节组件位于磁屏蔽桶外部，温度调节组件用于调节原子磁强计的环境温度。

进一步地，原子磁强计温度可调稳场测试系统还包括管路，温度调节组件包括温度调节介质和温度调节单元，温度调节单元用于调节温度调节介质的温度，温度调节介质通过管路进入保温装置内以调节原子磁强计的环境温度。

进一步地，原子磁强计温度可调稳场测试系统包括第一管路和第二管路，第一管路的第一端连接温度调节组件，第一管路的第二端连接保温装置，第二管路的第一端连接温度调节组件，第二管路的第二端连接保温装置；温度调节组件、第一管路、保温装置和第二管路形成温度调节介质的流通回路。

进一步地，温度调节介质包括气体或液体。

进一步地，保温装置还包括温度传感器，温度传感器位于保温装置内，温度传感器用于实时采集保温装置内原子磁强计的环境温度并将采集的温度值反馈至温度调节组件。

进一步地，温度调节组件还包括温度控制单元，温度控制单元用于根据温度传感器实时采集并反馈的温度值控制温度调节单元调节温度调节介质的温度。

进一步地，保温装置的材质包括耐高低温无磁材料。

进一步地，管路包括耐高低温聚酯软管。

进一步地，原子磁强计温度可调稳场测试系统还包括保温层，保温层位于保温装置和管路的至少一个的外表面。

进一步地，保温层的材质包括低导热系数保温材料。

应用本发明的技术方案，提供了一种原子磁强计温度可调稳场测试系统，该测试系统通过配置保温装置和温度调节组件实现了原子磁强计稳场测试装置的温度可调，使得能够在高温或低温环境下进行原子磁强计的稳场测试。与现有技术相比，本发明能够解决现有技术中原子磁强计测试装置的温度不可控导致的不能在高温或低温环境下进行稳场测试的技术问题。

附图说明

所包括的附图用来提供对本发明实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本发明的实施例，并与文字描述一起来阐释本发明的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。