[发明专利]原子磁强计温度可调稳场测试系统在审
申请号: | 201910863587.1 | 申请日: | 2019-09-12 |
公开(公告)号: | CN110646749A | 公开(公告)日: | 2020-01-03 |
发明(设计)人: | 秦杰;刘栋苏;郭宇豪 | 申请(专利权)人: | 北京自动化控制设备研究所 |
主分类号: | G01R33/00 | 分类号: | G01R33/00;G01R33/032 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100074 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 原子磁强计 保温装置 磁屏蔽桶 稳场 温度调节组件 测试系统 温度可调 测试 测试装置 低温环境 外界磁场 温度恒定 屏蔽 外部 应用 | ||
1.一种原子磁强计温度可调稳场测试系统,其特征在于,所述原子磁强计温度可调稳场测试系统包括:
原子磁强计(10),用于待测环境的稳场测试;
保温装置(20),所述原子磁强计(10)位于所述保温装置(20)内,所述保温装置(20)用于维持所述原子磁强计(10)的环境温度恒定;
磁屏蔽桶(30),所述保温装置(20)位于所述磁屏蔽桶(30)内,所述磁屏蔽桶(30)用于屏蔽外界磁场干扰;
温度调节组件(40),所述温度调节组件(40)位于所述磁屏蔽桶(30)外部,所述温度调节组件(40)用于调节所述原子磁强计(10)的环境温度。
2.根据权利要求1所述的原子磁强计温度可调稳场测试系统,其特征在于,所述原子磁强计温度可调稳场测试系统还包括管路(50),所述温度调节组件(40)包括温度调节介质和温度调节单元,所述温度调节单元用于调节所述温度调节介质的温度,所述温度调节介质通过所述管路(50)进入所述保温装置(20)内以调节所述原子磁强计(10)的环境温度。
3.根据权利要求2所述的原子磁强计温度可调稳场测试系统,其特征在于,所述原子磁强计温度可调稳场测试系统包括第一管路(51)和第二管路(52),所述第一管路(51)的第一端连接所述温度调节组件(40),所述第一管路(51)的第二端连接所述保温装置(20),所述第二管路(52)的第一端连接所述温度调节组件(40),所述第二管路(52)的第二端连接所述保温装置(20);所述温度调节组件(40)、所述第一管路(51)、所述保温装置(20)和所述第二管路(52)形成所述温度调节介质的流通回路。
4.根据权利要求2或3所述的原子磁强计温度可调稳场测试系统,其特征在于,所述温度调节介质包括气体或液体。
5.根据权利要求2所述的原子磁强计温度可调稳场测试系统,其特征在于,所述保温装置(20)还包括温度传感器(60),所述温度传感器(60)位于所述保温装置(20)内,所述温度传感器(60)用于实时采集所述保温装置(20)内所述原子磁强计(10)的环境温度并将采集的温度值反馈至所述温度调节组件(40)。
6.根据权利要求5所述的原子磁强计温度可调稳场测试系统,其特征在于,所述温度调节组件(40)还包括温度控制单元,所述温度控制单元用于根据所述温度传感器(60)实时采集并反馈的所述温度值控制所述温度调节单元调节所述温度调节介质的温度。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的原子磁强计温度可调稳场测试系统,其特征在于,所述保温装置(20)的材质包括耐高低温无磁材料。
8.根据权利要求2所述的原子磁强计温度可调稳场测试系统,其特征在于,所述管路(50)包括耐高低温聚酯软管。
9.根据权利要求2所述的原子磁强计温度可调稳场测试系统,其特征在于,所述原子磁强计温度可调稳场测试系统还包括保温层,所述保温层位于所述保温装置(20)和所述管路(50)的至少一个的外表面。
10.根据权利要求9所述的原子磁强计温度可调稳场测试系统,其特征在于,所述保温层的材质包括低导热系数保温材料。
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