[发明专利]一种可重构集成电路板级自动测试系统及其设计方法在审
| 申请号： | 201910850300.1 | 申请日： | 2019-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN110618373A | 公开（公告）日： | 2019-12-27 |
| 发明（设计）人： | 李璐芳;林长青;孙胜利;周双喜;喻琪超 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 31311 上海沪慧律师事务所 | 代理人： | 郭英 |
| 地址： | 200083 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明属于自动化测试技术领域，公开了一种可重构集成电路板级自动测试系统及其设计方法，ASIC采集板，与直流稳压电源、ASIC参数综合测试仪连接，用于针对不同的模数混合ASIC芯片采集相应数据；直流稳压电源，与ASIC采集板、ASIC参数综合测试仪连接，用于提供电力支持；ASIC参数综合测试仪，与ASIC采集板、直流稳压电源、测控、数据处理计算机连接，用于进行ASIC芯片性能测试；测控、数据处理计算机，与ASIC参数综合测试仪连接，用于接收下传数据进行处理同时通过上位机软件对芯片进行控制。本发明有效解决面向不同ASIC对象下处理数据方法差异到来的步骤繁琐、分析滞后问题，实现了高效率的实时处理。 | ||
| 搜索关键词： | 参数综合 测试仪 直流稳压电源 采集板 数据处理计算机 测控 自动化测试技术 自动测试系统 集成电路板 上位机软件 处理数据 电力支持 模数混合 实时处理 下传数据 性能测试 有效解决 高效率 可重构 采集 芯片 滞后 分析 | ||
【主权项】：
1.一种可重构集成电路板级自动测试系统，其特征在于，所述可重构集成电路板级自动测试系统包括：/nASIC采集板，与直流稳压电源、ASIC参数综合测试仪连接，用于针对不同的模数混合ASIC芯片采集相应数据；/n直流稳压电源，与ASIC采集板、ASIC参数综合测试仪连接，用于提供电力支持；/nASIC参数综合测试仪，与ASIC采集板、直流稳压电源、测控、数据处理计算机连接；用于对ASIC性能参数进行测试；/n测控、数据处理计算机，与ASIC参数综合测试仪连接，用于接收下传数据同时通过上位机软件对芯片进行的控制；对采集的数据进行数据处理，同时采集数据以excel形式输出信号均值、噪声值，信噪比、输入等效噪声、有效位数参数的结果，配置液晶屏显示整个系统运行状态。/n
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