[发明专利]一种数字逻辑自动测试装置及方法有效
| 申请号： | 201910821735.3 | 申请日： | 2019-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN110750086B | 公开（公告）日： | 2020-11-17 |
| 发明（设计）人： | 吴汉明;朱敏 | 申请（专利权）人： | 芯创智（北京）微电子有限公司 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人： | 田明;杨方 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区北京经济*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种数字逻辑自动测试装置及方法，测试装置包括：依次连接的输入串行寄存器、输入寄存器、测试模块、输出寄存器和输出串行寄存器；输入串行寄存器用于接收通过标准JTAG接口扫入的外部数据，再并行送入输入寄存器；输入寄存器用于将接收到的外部数据输入测试模块；测试模块用于基于外部数据中的工作模式，根据外部数据和外部输入的启动信号进行测试，测试完成后，将测试结果保存在输出寄存器；输出寄存器用于将测试结果并行输入输出串行寄存器；输出串行寄存器用于将接收到的测试结果通过标准JTAG接口扫出。本发明所提供的装置及方法，可以有针对性的测试出待测逻辑的功能和性能，准确测出最高工作频率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 数字 逻辑 自动 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种数字逻辑自动测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：依次连接的输入串行寄存器、输入寄存器、测试模块、输出寄存器和输出串行寄存器；/n所述输入串行寄存器用于接收通过标准JTAG接口扫入的外部数据，再并行送入所述输入寄存器；/n所述输入寄存器用于将接收到的所述外部数据输入所述测试模块；/n所述测试模块用于基于所述外部数据中的工作模式，根据所述外部数据和外部输入的启动信号进行测试，测试完成后，将测试结果保存在所述输出寄存器，所述工作模式包括：单步测试模式、向量加载模式和自测试模式；/n所述输出寄存器用于将所述测试结果并行输入所述输出串行寄存器；/n所述输出串行寄存器用于将接收到的所述测试结果通过所述标准JTAG接口扫出。/n
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